Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva – Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva

EVROPSKI STANDARD

EB 1714

Avgust 1997 _____________________________________________________________________________________ ICS 25.160.40 Ključne riječi: zavareni spojevi, zavarivanje topljenjem, metali, ispitivanja bez razaranja, kontrola kvaliteta, greške u zavarenim spojevima, ultrazvučna ispitivanja, uslovi ispitivanja, obrada površine

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva – Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva

CEN je ovaj evropski standard odobrio 14. oktobra 1998. Članice CEN-a su obavezne da se pridržavaju Internih propisa CEN/CENELEC-a koji propisuju uvjete za davanje ovom evropskom standardu statusa nacionalnog standarda bez bilo kakvih promjena. Najnovije liste i bibliografske reference, koje se odnose na sve nacionalne standarde mogu se dobiti na zahtjev u Centralnom sekretarijatu ili kod bilo koje članice CEN-a. Ovaj evropski standard postoji u tri zvanične verzije (verzija na engleskom, francuskom i njemačkom jeziku). Verzija na bilo kom drugom jeziku, urađena uz odgovornost članice CEN-a provođenjem na njen vlastiti jezik i prijavljena Centralnom sekretarijatu, ima isti status kao i zvanične verzije. Članice CEN-a su nacionalne institucije za standarde iz Austrije, Belgije, Češke Republike, Danske, Finske, Francuske, Njemačke, Grčke, Islanda, Irske, Italije, Luksemburga, Holandije, Norveške, Portugalije, Španije, Švedske, Švajcarske i Velike Britanije.

CEN Evropski komitet za standardizaciju (Evropean Committee for Standardization) Centralni sekretarijat: Rue de Stassart, 36 B-1050 Brussels _____________________________________________________________________________________ 1997 CEN - Sva prava korištenja u bilo kom vidu i na bilo kiji način zadržavaju, širom svijeta, članice CEN-a

Strana 2 EN 1714:1997 Ref. No. EN1714:1997 E

Predgovor Ovaj Evropski standard izradio je Tehnički komitet CEN/TC 121 "Zavarivanje" čiji sekretarijat drži DS. Ovaj Evropski standard će dobiti status nacionalnog standarda, bilo objavljivanjem identičnog teksta ili putem priznavanja najkasnije do februara 1998 godine a nacionalni standardi koji su s ovim u koliziji biće povučeni najkasnije do februara 1998 godine. Prema CEN/CENELEC-ovim Međunarodnim propisima, nacionalne organizacije za standarde slijedećih zemalja obavezne su da primjene ovaj Evropski standard: Austrija, Belgija, Češka Republika, Danska, Finska, Francuska, Njemačka, Grčka, Island, Irska, Italija, Luksemburg, Nizozemska, Norveška, Portugal, Španija, Švedska, Švicarska i Ujedinjeno Kraljevstvo.

Strana 3 EN 1714: 1997 1

Područje primjene

Ovaj evropski standard specificira metode za ručno ultrazvučno ispitivanje spojeva zavarenih topljenjem u metalnim materijalima debljine 8 mm ili više koji ispoljavaju nisko ultrazvučno slabljenje (naročito ono prouzrokovano rasipanjem). On je prvenstveno namjenjen za upotrebu kod zavarenih spojeva s punom penetracijom gdje su i zavareni i osnovni materijal feritni. Kad je specificirano i pogodno, mogu se također primjeniti ove tehnike: - na drugim materijalima osim onih gore spomenutih; - na zavarenim spojevima s parcijalnom penetracijom; - sa automatiziranom opremom, po sporazumu između ugovornih strana. Kada su u ovom standardu specificirane ultrazvučne vrijednosti koje zavise od materijala one se zasnivaju na čelicima koji imaju brzinu ultrazvuka od 5920 ± 50 m/s za longitudinalne talase, i 3255 ± 30 m/s za tranverzalne talase. Ovo treba uzeti u obzir kada se ispituju materijali s različitom brzinom. Standard specificira četiri nivoa ispitivanja, a svaki od njih odgovara različitoj vjerovatnoći detekcije nedostataka. Uputstvo za izbor nivoa ispitivanja A, B i C je dato u prilogu A. Zahtjevi četvrtog niova ispitivanja, koji su namjenjeni za specijalne primjene, su u skaldu sa opštim zahtjevima ovog standarda i kako je dogovoreno između ugovornih strana. Ovaj standard, po sporazumu između ugovornih strana, dozvoljava ocjenu indikacija, u cilju prihvatanja, jednom od slijedećih metoda: 1) Ocjenjivanje zasnovano prvenstveno na dužini i amplitudi ehoa signalne indikacije; 2) Ocjenjivanje zasnovano na karakterizaciji i dimenzioniranju indikacije pomoću metoda kretanja glave. 2

Normativne reference

Ovaj evropski standard inkorporira odredbe datiranih ili nedatiranih referenci iz drugih publikacija. Ove normativne refrence su citirane na odgovarjućim mjestima u tekstu a publikacije se navedene kako slijedi. Kod datiranih referenci, naredni amandmani ili revizije bilo koje od ovih publikacija se primjenjuju na ovaj evropski standard samo kada su ugrađene u njega amandmanom ili revizijom. Kod nedatiranih referenci primjenjuje se posljednja edicija publikacije o kojoj je riječ. EN 473

Kvalifikacija i certifikacija IBR osoblja - Opšti principi

prEN 583-1

Ispitivanje bez razaranja - Ultrazvučno ispitivanje - Dio I: Opšti principi

Strana 4 EN 1714:1997 prEN 583-2

Ispitivanje bez razaranja - Ultrazvučno ispitivanje - Dio 2 : Regulacija osjetljivosti i ospega.

prEN 1330-4

Ispitivanje bez razaranja - Terminologija - Dio 4: Termini koji se koriste u ultrazvučnom ispitivanju

prEN 1712

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Ultrazvučno ispitivanje zavarenih spojeva - Nivoi prihvatanja

prEN 1713

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Ultrazvučno ispitivanje Karaketrizacija nedostataka u zavarenim spojevima.

prEN 12062

Ispitivanje bez razaranja zavarenih spojeva - Opšta pravila za metalne materijale

EN 25817

Elektrolučno zavareni spojevi u čeliku - Smjernice o nivoima kvaliteta za nedostatke (ISO 5817: 1992)

3

Definicije i simboli

Za potrebe ovog standarda primjenjuju se defincije date u prEN 12062 i prEN 1330-4. Za nazive veličina i simbole pogledati tabelu 1. Smatra se da će indikacije biti ili lognitudinalne ili transverzalne, zavisno od pravca njihove glavne dimenzije u odnosu na osu zavarenog spoja, x, u skladu s sa slikom 2. Tabela 1: Nazivi veličina i simboli Simbol

Naziv veličine

Jedinica

t

Debljina osnovnog materijala (najtanji dio)

mm

DDSR

Prečnik reflektora u obliku diska

mm

DSDH

Prečnik poprečno bušene rupe

mm

l

Dužina indikacije

mm

h

Pružanje indikacije u pravcu dubine

mm

x

Položaj indikacije u longitudinalnom pravcu

mm

y

Položaj indikacije u transverzalnom pravcu

mm

z

Položaj indikacije po dubini

mm

lz

Projektovana dužina indikacije po dubini

mm

lx

Projektovana dužina indikacije u x pravcu

mm

ly

Projektovana dužina indikacije u y pravcu

mm

p

Rastojanje punog skoka

mm

Strana 5 EN 1714: 1997 5

Opšte postavke

Namjena ovog standarda je da opiše opšte metode ultrazvučnog ispitivanja, koristeći standardne kriterijume, za najčešće korištene zavarene spojeve. Konkretni zahtjevi specificirani u ovom standardu obuhvataju opremu, pripremu, izvođenje ispitivanja i izvještavanje. Specificirani parametri, naročito oni za ispitne glave, kompatibilni su sa zahtjevima iz prEN 1712 i prEN 1713, a također su pogodni za korištenje sa drugim standardima za kriterijume prihvatanja. Tehnike preporučene u ovom standardu su pogodne za detekciju onih nedostataka zavarenog spoja koji su specificirani u tipičnim standardima prihvatanja zavarenog spoja. Metode koje se koriste za ultrazvučnu ocjenu indikacija i kriterijumi prihvatanja će biti usaglašeni između ugovornih strana. Ako usaglašeni kriterijumi prihvatanja zahtjevaju preciznije određivanje visine i prirode defekta, na pr. kada su primjenjini u kriterijumima koji odgovaraju namjeni, ovo može zahtjevati korištenje tehnika ili metoda koje su izvan područja primjene ovog standarda. 5

Informacije potrebne prije ispitivanja

5.1 Pitanja koja su predmet usaglašavanja između ugovornih strana Sljedeća pitanja će biti usaglašena: - metod uspostavljanja referentnog nivoa; - metod koji će se koristiti za ocjenu indikacija; - nivoi prihvatanja; - nivo ispitivanja; - proizvodna i radna faza(e) u kojoj će ispitivanje biti obavljeno; - kvalifikacija osoblja; - obim ispitivanja za detekciju transverzalnih indikacija; - zahtjevi za ispitivanje tandem tehnikom; - ispitivanje osnovnog metala prije i/ili nakon zavarivanja; - da li se zahtjeva ili ne pisana procedura ispitivanja; - zahtjevi za pisane procedure ispitivanja. 5.2 Konkretne informacije koje se traže prije ispitivanja Prije nego što bilo kakvo ispitivanje zavarenog spoja može da počne, operator će imati pristup slijedećim bitnim informacijama: - pisana procedura ispitivanja , ako se zahtjeva (vidjeti 5.3); - vrsta(e) osnovnog materijala i forma proizvoda (t.j. liven, kovan, valjan)

Strana 6 EN 1714:1997 - proizvodna ili radna faza u kojoj se ispitivanje vrši uključujući termičku obradu ako je ima; - vrijeme i trajanje bilo kakve termičke obrade nakon zavarivanja; - priprema spoja i dimenzije; - zahtjevi koji se odnose na stanje površine; - procedura zavarivanja ili relevantne informacije o procesu zavrivanja; - zahtjevi izvješatavanja; - nivoi prihvatanja; - obim ispitivanja uključujući zahtjeve za detekciju transverzalnih indikacija, ako ima značaja; - nivo ispitivanja; - nivo kvalifikacije osoblja; - procedure o korektivnim aktivnostima u slučaju otkrivanja neprihvatljivih indikacija. 5.3 Pisana procedura ispitivanja Definicije i zahtjevi u ovom standardu će normalno zadovoljiti potrebu za pisanom procedurom. Kada to nije slučaj ili kad tehnike opisane u ovom standardu nisu primjenjive na zavareni spoj koji se ispituje, koristiće se dodatne pisane procedure, po sporazumu između ugovornih strana. 6

Zahtjevi za osoblje i opremu

6.1 Kvalifikacije osoblja Osoblje koje izvodi ispitivanja u skladu s ovim standardom će biti kvalifikovano za odgovarajući nivo u skladu sa EN 473 ili njegovim ekvivalentom u relevantnom industrijskom sektoru. Pored opšteg znanja o ultrazvučnom ispitivanju zavarenih spojeva, oni će također biti upoznati sa problemima ispitivanja koji su u konkretnoj vezi sa tipom zavarenog spoja koji se ispituje. 6.2 Oprema Bilo kakva oprema koja se koristi u vezi sa ovim standardom odgovaraće zahtjevima relevantnih evropskih standarda. Prije objavljivanja EN standarda u vezi s ovim predmetom mogu se koristiti odgovarajući nacionalni standardi.

Strana 7 EN 1714: 1997 6.3 Parametri ispitnih glava 6.3.1. Frekvencija Frekvencija će biti u opsegu 2 MHz do 5 MHz, i biće odabrana da odgovara specificiranim nivoima prihvatanja. Za početno ispitivanje, frekvencija će biti što je moguće niža, u gore datom opsegu, kada se ocjenjivanje izvodi u skladu sa nivoima prihvatanja zasnovanim da dužini i amplitudi na pr: prEN 1712. Više frekvencije se mogu koristiti da se poboljša rezolucija opsega ako je ovo neophodno kada se koriste standardi za nivoe prihvatanja koji su zasnovani na karakterizaciji nedostataka na pr. prEN 1713. Frekvencije od približno 1 MHz mogu se koristiti za ispitivanje kod dugih puteva zvuka kada materijal pokazuje nadprosječno slabljenje. 6.3.2 Upadni uglovi (uglovi ulaska zvuka) Kada se ispitivanje izvodi sa transferzalnim talasima i tehnikama koje zahtjevaju da se ultrazvučni snop reflektuje sa suprotne površine, treba voditi računa da se osigura da upadni ugao snopa, sa suprotnom reflektujućom površinom, nije manji od 35° i po mogućnosti ne veći od 70°. Kada se koristi više od jednog ugla ispitne glave, najmanje jedna od korištenih kosih glava će odgovarati ovom zahtjevu. Jedan od korištenih uglova glave će osigurati da se površine spajanja zavarenog spoja ispitaju pod, ili što je moguće bliže, pravim uglom. Ako je specificirano korištenje dva ili više uglova ispitnih glava, razlika između nominalnih uglova snopa će biti 10° ili više. Uglovi ulaska zvuka na ispitnoj glavi i suprotnoj reflektujućoj površini, kada je zakrivljena, mogu biti određeni crtanjem poprečnog presjeka zavarenog spoja ili u skladu sa metodama datim u pr EN 583-2. Kad upadni uglovi ne mogu da se odrede kako je specificrano u ovom standardu izvještaj o ispitivanju će sadržavati iscrpan opis korištenih skeniranja i obim prouzrokovanog bilo kakvog nepotpunog pokrivanja zajedno sa objašnjenjem teškoća na koje se naišlo. 6.3.3 Prilagođavanje ispitnih glava zakrivljenim ispitnim površinama Zazor između ispitne površine i dna podložnog klina glave neće biti veći od 0,5 mm. Kod cilinidričnih ili sfernih površina ovaj zahtjev će obično biti ispunjen kada je zadovoljena sljedeća jednačina: D ≥ 15a gdje je: D - prečnik komponente u milimetrima; a - dimenzija u milimetrima podložnog klina u pravcu ispitivanja. Ako ovaj zahtjev ne može da se ispuni podložni klin ispitne glave će se prilagoditi površini i prema tome će se podesiti osjetljivost i opseg.

Strana 8 EN 1714:1997 7

Zapremina koja se ispituje

Zapremina koja se ispituje (vidjeti sliku 1) se definiše kao zona koja uključuje zavar i osnovni materijal od najmanje 10 mm sa svake strane zavara, ili širinu zone uticaja toplote, ono što je veće. U svim slučajevima skeniranje će pokriti čitavu zapreminu koja se ispituje. Ako pojedine sekcije ove zapremine ne mogu biti pokrivene u bar jednom pravcu skeniranja, ili ako uglovi ulaska zvuka sa suprotnom površinom ne ispunjavaju zahtjeve tačke 6.3.2, usaglasiće se alternativne ili dopunske ultrazvučne tehnike ili druge metode ispitivanja bez razaranja. U nekim slučajevima ovo može zahtjevati uklanjanje nadvišenja vara. Dopunske metode mogu zahtjevati ispitivanje koristeći kose ispitne glave sa dvostrukim kristalom, glave za puzajuće talase, druge ultrazvučne tehnike ili bilo koju drugu pogodnu metodu, na pr. ispitivanje tečnim penetrantima, magnetnim prahom ili radiografsko ispitivanje. Pri izboru alternativnih ili dopunskih metoda, dužnu pažnju treba posvetiti tipu zavarenog spoja i vjerovatnoj orjentaciji bilo kog nedostatka koji će biti detektovan. 8

Priprema površina za skeniranje

Površine za skeniranje će biti dovoljno široke da dozvole da se zapremina koja se ispituje (vidjeti sliku 1) u potpunosti pokrije. Alternativno, širina površina za skeniranje može biti manja ako se može postići ekvivalentno pokrivanje zapemine koja se ispituje skeniranjem i sa gornje i sa donje površine spoja. Površine za skeniranje će biti glatke i bez stranih materija za koje je vjerovatno da će ometati sprezanje ispitne glave (na pr. hrđa, cunder, kapljice metala, zarezi, žlijebovi). Valovitost ispitne površine neće rezultirati u stvaranju zazora između glave i ispitnih površina većem od 0,5 mm. Ako je neophodno ovi zahtjevi će biti osigurani ravnanjem. Lokalne varijacije konture površine, na pr. duž ivice zavarenog spoja, čiji je rezultat zazor ispod ispitne glave od sve do 1 mm, mogu samo biti dozvoljene ako je najmanje jedan dodatni ugao glave primjenjen sa napadnute strane zavara. Ovo dodatno skeniranje je neophodno da se kompenzira redukovano pokrivanje zavara koje će se dogoditi sa zazorom ove dimenzije. U svim slučajevima, maksimalni dozvoljeni zazor na područjima ispitne površine sa kojih se izvodi ocjena indikacija će biti 0,5 mm. Može se pretpostaviti da će površine za skeniranje i površine sa kojih se zvučni snop reflektuje biti zadovoljavajuće ako hrapavost površine, Ra, nije veća od 6,3 μm za mašinski obrađene površine, ili nije veća od 12,5 μm za površine bombardovane sačmom. 9

Ispitivanje osnovnog materijala

Osnovni metal, u području zone skeniranja, će se ispitati normalnim glavama prije ili nakon zavarivanja, osim ako se može demonstrirati (na pr. prethodna ispitivanja u toku procesa proizvodnje) da na ispitivanje zavarenog spoja kosom glavom neće uticati prisustvo nedostataka ili visoko slabljenje. Gdje su nedostaci nađeni, njihov uticaj na predloženo ispitivanje kosom glavom će se procjeniti i, ako je neophodno, tehnike će se podesiti na odgovarajući način. Kada je zadovoljavajuće pokrivanje ultrazvučnim ispitivanjem ozbiljno ugroženo, onda će se po sporazumu, razmotriti druge metode ispitivanja (na pr. radiografija ).

Strana 9 EN 1714: 1997

1 2

Širina zapremine koja se ispituje Površina za skeniranje Slika 1: Primjer zapremine koja se ispituje i koja treba da se pokrije pri skeniranju radi longitudinalnih indikacija

10 Regulacija opsega i osjetljivosti 10.1 Opšte Podešavanje opsega i osjetljivosti će se izvršiti prije svakog ispitivanja u skladu sa ovim standardom i prEN 583-2. Provjere radi potvrđivanja ovih podešavanja će biti izvedene najmanje svakih 4 sata i nakon završetka ispitivanja. Provjere će također biti izvršene uvijek kada se parametar sistema mjenja ili kada se sumnja na promjene u ekvivalentnim podešavanjima. Ako se nađu odstupanja u toku ovih provjera izvešće se korekcije date u tabeli 2.

Strana 10 EN 1714:1997 Tabela 2 Korekcije osjetljivosti i opsega Osjetljivost 1

Odstupanja ≤ 4 dB

Podešavanje će se korigovati prije nego što se ispitivanje nastavi.

2

Smanjenje osjetljivosti > 4 dB

Podešavanje će biti korigovano i sva ispitivanja izvedena sa ovom opremom u toku prethodnog perioda će biti ponovljena.

3

Povećanje osjetljivosti > 4 dB

Podešavanje će biti korigovano i sve registrovane indikacije će biti ponovo ispitane. Opseg

1

Odstupanja ≤ 2% opsega

Podešavanje će se korigovati prije nego što se ispitivanje nastavi

2

Odstupanja > 2% opsega

Podešavanje će biti korigovano i sva ispitivanja izvedena sa ovom opremom u toku prethodnog perioda će biti ponovljena

10.2 Referentni nivo Koristiće se jedna od sljedećih metoda za postavljanje referentnih nivoa : - Metoda 1: Referentni nivo je kriva rastojanje-amplituda (DAC kriva) za poprečno bušenu rupu prečnika Ø 3 mm; - Metoda 2: Referentni nivoi za transverzalne i longitudinalne talase koji koriste rastojanje-pojačanje-dimenzija (AVG) sistem zasnovan na reflektoru oblika diska (DSR) su dati u tabelama 3 odnosno 4. - Metoda 3: Referentni nivo je jednak DAC krivoj za pravougaoni žlijeb dubine 1 mm. - Tandem ispitivanje: DDSR = 6 mm (za sve debljine). Tabela 3 Referentni nivoi za skeniranje kosim snopom sa transverzalnim talasima za metodu 2 (AVG) Nominalna frekvencija ispitne glave (MHz)

8 ≤ t 100

1) Nije primjenjivo 2) Izvodiće se samo po specijalnom sporazumu 3) Biće zamjenjeno tandem tehnikom iz A ili B ako C nije moguće.

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukup an SZW pozicija glave broj skenir T-skeniranje anja FiG c 2 (F i G) c 6 (X i Y) ili (W i Z) f + g (F i G) c 6 (X i Y) ili (W i Z) f + g FiG c 4 (F i G) c 6 (X i Y) ili (W i Z) f + g (F i G) c 12 (X i Y) ili (W i Z) f + g (F i G) c 12 (X i Y) ili (W i Z) f + g

Napomene 1) 1) 2) 2)

2)

2) 2)

2)

2)

Strana 22 EN 1714:1997

1 Poprečni presjek 2 Pogled odozgo 3 Komponenta 1 = cilindrični plašt/ ravna ploča 4 Komponenta 2 = priključak (mlaznica)

Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c,d i e. Slika A.3: Spojevi priključka ugrađenog kroz plašt

Strana 23 EN 1714: 1997 Tabela A.3 Spojevi priključka ugrađenog kroz plašt Nivo ispitivanja

A

Debljina osnovnog materijala mm

uglova glave

8 ≤ t < 15

1

15 ≤ t ≤ 40

1

8 ≤ t < 15

1

15 ≤ t < 40

1

40 ≤ t < 60

1

B

60 ≤ t ≤ 100 8 ≤ t < 15 C

15 ≤ t ≤ 40 > 40

2 1 1 1 2 2 2 2

Longitudinalne indikacije Zahtjevani broj: pozicija pozicija SZW SZW glave glave L-skeniranje N-skeniranje A 1,25 p ili C c (A ili F) ili 1,25 p C c D d A ili 1,25 p C c D d A ili 1,25 p C c (D i E) d+e (A ili B) 1,25 p C c (D i E) d+e (A i B) 0,5 p C c (D i E) d+e (A ili B) 1,25 p C c (D ili E) d ili e (A ili B) 0,5 p C c (D ili E) d ili e (A i B) 0,5 p C c (D i E) d+e

1) Nije primjenjivo 2) izvodiće se samo po specijanom sporazumu

Ukupan broj skeniranja

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan uglova pozicija glave broj glave skeniranja T-skeniranje

Napomene

1

-

-

-

1)

2

-

-

-

1)

2

1

2

2)

2 ili 3

1

2

2)

4

1

(X i Y) i (W i Z)

4

2)

7

2

(X i Y) i (W i Z)

8

2)

3

1

(U i V) ili (X i Y i W i Z)

2 ili 4

2)

5

2

(X i Y) i (W i Z)

8

2)

9

2

(X i Y) i (W i Z)

8

2)

(U i V) ili (X i Y) ili (W i Z) (U i V) ili (X i Y) ili (W i Z)

Strana 24 EN 1714:1997

Strana 25 EN 1714: 1997

1 Poprečni presjek 2 Pogled s kraja 3 Komponenta 1 4 Komponenta 2 Širine zona skeniranja su označene slovima a,b i c Slika A.4: Konstrukcini L spojevi

Strana 26 EN 1714:1997

Tabela A.4: Konstrukcioni L spojevi Nivo ispitivanja A B

C

Debljina osnovnog materijala mm

uglova glave

8 ≤ t < 15 15 ≤ t ≤ 40 8 ≤ t < 15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100 8 ≤ t < 15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100 > 100

1 1 1 2 2 1 2 3 3

Longitudinalne indikacije Zahtjevani broj: pozicija pozicija SZW SZW glave glave L-skeniranje N-skeniranje A ili B ili H 1,25 p ili C c A ili B ili H 1,25 p C c A ili B ili H 1,25 p ili C c A ili B ili H 1,25 p C c (H ili A) i B 0,75 p C c (H ili A) i B 1,25 p C c (H ili A) i B 1,25 p C c (H ili A) i B 0,75 p C c (H ili A) i B 0,5 p C c

Ukupan broj skeniranja 1 2 1 3 5 3 5 7 7

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan uglova pozicija glave broj glave skeniranja T-skeniranje 1 (F i G) ili (X i Y) 2 2 (F i G) ili (X i Y) 4 2 DiE 4 1 DiE 2 1 DiE 2 2 DiE 4 2 DiE 4

1) Nije primjenjivo 2) Biće izvedeno po specijalnom sporazumu 3) Površina pokrivnog sloja zavara će odgovarati zahtjevima u Članu 8. Ovo može zahtjevati ravnanje pokrivnog sloja zavara.

Napomene 1) 1) 2) 2) 2), 3) 2), 3) 2), 3) 2), 3) 2), 3)

Strana 27 EN 1714: 1997

1 Poprečni presjek 2 Pogled odozgo 3 Komponenta 1 = priključak (mlaznica) 4 Komponenta 2 = plašt 5 Normalna ispitna glava Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c, d i x

Slika A.5: Spojevi priključka (mlaznice) ugrađenog na plašt

Strana 28 EN 1714:1997

Tabela A.5: Spojevi priključka (mlaznice) ugrađenog na plašt Nivo ispitivanja

Debljina osnovnog materijala mm

uglova glave

8 ≤ t < 15

1

15 ≤ t ≤ 40

1

8 ≤ t < 15

2

15 ≤ t < 40

2

40 ≤ t < 60

2

60 ≤ t ≤ 100

2

8 ≤ t < 15

3

15 ≤ t < 40

3

40 ≤ t < 60

3

60 ≤ t ≤ 100

3

A

B

C

Longitudinalne indikacije Zahtjevani broj: pozicija pozicija SZW SZW glave glave L-skeniranje N-skeniranje A ili 1,25 p B 0,50 p A ili 1,25 p C c B 0,50 p A ili 1,25 p B 0,50 p A ili 1,25 p C c B 0,50 p A 1,25 p C c (B ili D) 0,50 p A 1,25 p C c (B ili D) 0,5 p A ili 1,25 p C c B 0,5 p A ili 1,25 p C c B 0,5 p A 1,25 p C c B 0,5 p A 1,25 p C c B 0,5 p

Ukupan broj skeniranja

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan uglova pozicija glave broj glave skeniranja T-skeniranje

Napomene

1

-

-

-

1)

2

-

-

-

1)

2

1

XiY

2

2), 3)

3

1

XiY

2

2), 3)

5

2

XiY

4

2), 3)

5

2

XiY

4

2), 3)

4

1

XiY

2

2), 3)

4

1

XiY

2

2), 3)

7

2

XiY

4

2), 3)

7

2

XiY

4

2), 3)

1) Nije primjenjivo 2) Biće izvedeno samo po specijalnom sporazumu 3) Površina pokrivnog sloja zavara će odgovarati zahtjevu u Članu 8. Ovo može zahtjevati ravnanje pokrivnog sloja zavara.

Strana 29 EN 1714: 1997

1 Pogled s kraja 2 Pogled sa strane 3 Komponenta 1 4 Komponenta 2 5 Komponenta 3 Širine zona skeniranja su označene slovima: a,b,c,d,e,f,g i h. Slika A.6:. Krstasti spojevi

Strana 30 EN 1714:1997

Tabela A.6:. Krstasti spojevi Nivo ispitivanja

A

B

Longitudinalne indikacije Zahtjevani broj:

Debljina osnovnog materijala mm

uglova glave

8 ≤ t < 15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100

pozicija glave

SZW

Ukupan broj skeniranja

Napomene

1 1 2

L-skeniranje (A i C) ili (B i D) AiBiCiD AiBiCiD

1,25 p 0,75 p 0,75 p

2 4 8

3)

8 ≤ t < 15

1

AiBiCiD

1,25 p

4

15 ≤ t < 40

2

AiBiCiD

0,75 p

8

2

AiBiCiD

0,75 p

1

EiFiGiH AiB i i tandem C i D (A ili B) i EiF (C ili D) i GiH

e-h

40 ≤ t ≤ 100

2 C

40 ≤ t ≤ 100 1

1) Nije primjenjivo 2) Izvodiće se samo po specijalnom sporazumu 3) Ako se zahtjeva osjetljiviji nivo, primjenicće se tandem tehnika 4) Ali tada E i F i G i H će biti izostavljeni.

3)

3)

3), 4)

12

3), 4)

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan uglova pozicija glave broj glave skeniranja T-skeniranje (X1 i Y1 i W1 i Z1) 1 i 8 (X2 i Y2 i W2 i Z2) (X1 i Y1 i W1 i Z1) 1 i 8 (X2 i Y2 i W2 i Z2) (X1 i Y1 i W1 i Z1) 2 i 16 (X2 i Y2 i W2 i Z2)

0,75 p 12 e-h

2

(X1 i Y1 i W1 i Z1) i (X2 i Y2 i W2 i Z2)

16

Napomene 1) 1) 1)

2)

2)

2)

2)

Strana 31 EN 1714: 1997

Strana 32 EN 1714:1997

1 Komponenta 1 = glavna cijev 2 Komponenta 2 = cijevni ogranak Širine zona skeniranja su označene slovima : d,e,f,g i h Slika A.7: Čvorni spojevi u cijevnim konstrukcijama

Strana 33 EN 1714: 1997

Tabela A.7: Čvorni spojevi u cijevnim konstrukcijama Nivo ispitivanja

A

B

Debljina osnovnog materijala mm 8 ≤ t < 15 15 ≤ t ≤ 40 40 ≤ t ≤ 100 8 ≤ t < 15 15 ≤ t < 40 40 ≤ t ≤ 100

C

uglova glave 2 3 3 2 3 3 1

Longitudinalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan pozicija pozicija SZW SZW broj glave glave skeniranja L-skeniranje N-skeniranje FiGiH 1,25 p 6 FiGiH 1,25 p 9 FiGiH 1,25 p 9 FiGiH 1,25 p D d 7 FiGiH 1,25 p D d 10 FiGiH 1,25 p D d 11 E e Nije primjenjivo

1) Ispitivanje čvornih spojeva će obično biti nivoa D, koje zahtjeva specijalni sporazum 2) Nije primjenjivo 3) Ako provrt komponente 1 nije pristupačan (položaj glave D i E) nivo ispitivanja 2 se ne može postići

Transverzalne indikacije Zahtjevani broj: Ukupan uglova pozicija glave broj glave skeniranja T-skeniranje 1 XiY 2 2 XiY 4 2

XiY

4

Napomene 1), 2) 1), 2) 1), 2) 1), 3) 1), 3) 1), 3)