Doosan NDE Casting
September 6, 2022 | Author: Anonymous | Category: N/A
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PROCESS SPECIFICATION
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NDE PROCEDURE FOR CASTING
TABLE OF CONTENTS [목차] 1.0 1. 0
$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$ 8 SCOPE [ 적용 범위 ] $$$$$$$$$$$$$
2.0 2. 0
REFERENCE DOCUMENTS [ 참조 문서 ] $$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$ $$ 8
3.0 3. 0
DEFINITIONS [ 정의 ] $$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$ 8
4.0 4. 0
PERSONNEL REQUIREMENTS [ 사 원 요
5.0 5. 0
$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$: TIME AND AREA OF EXAMINATION [ 사 시기 및 영역 ] $$$$$$$$$$$$$
6.0 6. 0
SURFACE CONDISION [ 표면 조
7.0 7. 0
REQUIREMENTS FOR UT [ 초음파탐상
8.0 8. 0
REQUIREMENTS FOR MT [ 자분탐상
$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$ /. 사의 요구사항] $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$
9.0 9. 0
REQUIREMENTS FOR PT [ 침투탐상
사의 요구사항 ] $$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$ /:
] $$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$ 9
] $$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$ : 사의 요구사항 ] $$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$ ;
$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$ /< 10.0 ACCEPTANCE STANDARDS [ 합격기준 ] $$$$$$$$$$$$$$ 10.0 $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$$$$$$$$$$$$$$$$ $$$ /= 11.0 RECORDS [ 기록 ] $$$$$$$$$$$$$$ 11.0
APPENDIX 1. EXTENT AND METHODS OF EXAMINATION TO BE APPLIED TO NODE CASTINGS (SAMPLE)
3>1?4>1@ AB
012C1D1@ AB
E??>"21@ AB
&4F1
+41 GHI$ 34>J
G"I5 KD4I$ +HI5
LHI +C#J$ L4I5
!4M1
7./:)//)7<
7./:)//)7<
7./:)//)7<
3"NCMC"I O P121Q
&!( P121Q RR
&!( P121Q RR
&!( P121Q RRR
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' 7 "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING
012CNC"I +M4MHN ' 012
RNNH1 !4M1
.
7./:$//$7< 7./:$//$7<
!1N#>C?MC"I SC>NM CNNH1
3>1?4>1@ AB
012C1D1@ E??>"21@ AB AB
+$GT 34>J
G$KT +HI5
L$+T L4I5
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' 8 "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING 1.0
SCOPE [적용 범위]
/$/
UVCN ?>"#1@H>1 NV4QQ A1 4??QC1@ M" #4NMCI5N$ W본 절차서는 주조품에 적용하여야 한다$X
/$7
UVCN ?>"#1@H>1 @1N#>CA1N MV1 >1YHC>1F1IMN 4I@ M1#VICYH1N 6"> MV1 ZQM>4N"IC# 1[4FCI4MC"I \V1>1CI46M1> >161>>1@ M" ]ZU^_ 4I@ +H>64#1 @CN#"IMCIHCMB 1[4FCI4MC"I \V1>1CI46M1> >161>>1@ M" ]+U^_ M" A1 HN1@ 6"> #4NMCI5 F4M1>C4QN$ ZIQ1NN "MV1>DCN1 N?1#C6C1@ CI ">@1>T &!( NV4QQ A1 ?1>6">F1@ "I 4 #4NMCI5 CI MV1 6CI4Q NH>64#1 #"I@CMC"I 4I@ 6CI4Q MV1>F4QQB M>14M1@ #"I@CMC"I$ W본 절차서는 주조품에 적용되는 초음파탐상검사 및 표면불연속검사에 대한 요건 및 기법을 기술한다$
주문서에 특별한 언급이 없다면T 비파괴검사는 최종 표면조건 및 최종 열처리조건에서 주조품에 대해 수행되어야 한다$X
/$8
UVCN ?>"#1@H>1 #4I A1 4??QC1@ M" >4D F4M1>C4QT CI)?>"#1NN F4M1>C4Q 4I@ 6CICNV1@ F4M1>C4QNT >154>@Q1NN "6 V14M M>14MF1IM NM4M1$ W본 절차서는 재료의 열처리에 관계없이 소재T 황삭 및 정삭부에 적용할 수 있다$X
/$9
UV1 >1YHC>1@ CIN?1#MC"I NH>64#1 4I@ 4##1?M4I#1 #>CM1>C4 ?1> Q"#4MC"I 4>1 N?1#C6C1@ CI MV1 4??QC#4AQ1 &!( ?>"#1@H>1T ?4>M N?1#C6C#4MC"I 4I@O"> ?4>M @>4DCI5 6"> MV1 #4NMCI5$ W각 부분별 검사 표면과 합격기준은 비파괴검사 절차서T 부품 사양서T 부품 도면에 명시된다$X $X
2.0
REFERENCE DOCUMENTS [참조 문서]
7$/
PQ"B@N 015CNM1> \P0_ 0HQ1N 6"> MV1 F4IH64#MH>1T U1NMCI5 4I@ #1>MC6C#4MC"I "6 F4M1>C4QN
7$7
+&U)U-)/E E+&U @"#HF1IM @"#HF1IM `?1>N"II1Q `?1>N"II1Q YH4 YH4QC6C#4MC"I QC6C#4MC"I 4I@ #1 #1>MC6C#4MC"I >MC6C#4MC"I CI I"I)@1NM>H#MC21 I"I)@1NM>H#MC21 M1NMCI5` M1NMCI5`
7$8
R+* aN"II1Q
7$9
E+U, (@ 5HC@1 6"> F45I1MC# ?4>MC#Q1 M1NMCI5 M1NMCI5
7$:
E+U, (/;: +M4I@4>@ ?>4#MC#1 6"> QCYHC@ ?1I1M>4IM 1[4FCI4MC"I 6"> 51I1>4Q CI@HNM>B$ CI@HNM>B$
7$;
E+U, E;.a +M4I@4>@ ?>4#MC#1 6"> #4NMCI5T #4>A"IT Q"D)4QQ"BT 4I@ F4>M1INCMC# NM4CIQ1NN NM11QT HQM>4N"IC# 1[4FCI4MC"I MV1>1"6
7$<
R+* 9aa7)/ +M11Q #4NMCI5N)ZU)34>M /$ +M11Q #4NMCI5N 6"> 51I1>4Q ?H>?"N1N ?H>?"N1N
3.0
DEFINITIONS [정의]
8$/
!16CICMC"I "6 ZU W초음파탐상검사의 정의X
8$/$/
!E- \!CNM4I#1)EF?QCMH@1 \!CNM4I#1)EF?QCMH@1 -">>1#MC"I_ ,1MV"@ ,1MV"@ W거리 진폭 교정 방법X !CNM4I#1)EF?QCMH@1 -">>1#MC"I #4QCA>4MC"I F1MV"@ MV4M HN1N MV1 >16Q1#MC"I 6>"F ScKN "> +!KN M" #">>1Q4M1 1#V" 4F?QCMH@1 M" @CNM4I#1 6>"F MV1 M>4IN@H#1>$ W거리 진폭 교정은 평저공 및 측면공으로부터 얻어진 에코 증폭을 이용하는 교정 방법X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' 9 "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING 8$/$7
!d+ \!CNM4I#1)d4CI)+Ce1_ \!CNM4I#1) d4CI)+Ce1_ ,1MV"@ W거리 이득 크기 방법X !CNM4I#1)d4CI)+Ce1 #4QCA>4MC"I F1MV"@ MV4M HN1N MV1 A4#J >16Q1#MC"I 6>"F 6Q4M 4I@ ?4>4QQ1Q NH>64#1N M" >1Q4M1 1#V" 4F?QCMH@1 M" 6Q4M A"MM"F V"Q1 @C4F1M1>$ W거리 이득 크기는 저면에서 반사되는 에코를 사용하는 교정 방법X
8$/$8
SQ4M c"MM"F K"Q1 \!CN# +V4?1 016Q1#M">_ W평저공 \ScK_X E #BQCI@>C#4Q V"Q1 V42CI5 4 6Q4M A"MM"F MV4M CN ?1>?1I@C#HQ4> ?1>?1I@C#HQ4> M" MV1 4[CN "6 MV1 V"Q1$ UV1 @CN# NV4?1@ V"Q1 A"MM"F CN MB?C#4QQB HN1@ 4N 4 >161>1I#1 >16Q1#M">$ W축방향에 수직인 평저공$ 평면 형상의 구멍이 대비 반사체로 전형적으로 사용된다$X
8$/$9
+C@1 !>CQQ K"Q1 \+!K_ W측면공 \+!K_X E #BQCI@>C#4Q V"Q1 V"Q1 DCMV 4[CN ?4>4QQ1Q ?4>4QQ1Q M" MV1 M1NM NH>64#1$ W검사표면에 평행한 축을 가지고 있는 원통형의 구멍X
8$/$:
SHQQ +#>11I K1C5VM \S+K_ W최대 화면 높이\S+K_X UV1 F4[CFHF 24QH1 "6 MV1 21>MC#4Q N#4Q1 "I MV1 @CN?Q4B N#>11I "6 MV1 HQM>4N"IC# M1NM CINM>HF1IM >1?>1N1IMCI5 /..f "6 MV1 V1C5VM "6 MV1 N#4Q1$ W초음파 장비의 화면의 /..f에 대비되는 최대값X
8$/$;
P"NN "6 c4#J 016Q1#MC"I W저면파의 손실X EIB Q"#4QCe1@ >1@H#MC"I "6 MV1 A4#J >16Q1#MC"I 4F?QCMH@1 I"M 4MM>CAHM1@ M" #"H?QCI5 "> 24>C4MC"I CI ?4>M 51"F1M>B$ W커플링이나 기하학적인 형상에 의해서가 아닌 저면 반사 증폭의 감소X
8$/$<
0161>1I#1 @CN#"IMCIHCMB 1#V" NCe1 W대비 불연속 에코 크기X +F4QQ1NM CI@C#4MC"I M" A1 >1#">@1@ @H>CI5 MV1 4NN1NNF1IM ?V4N1 "6 4I HQM>4N"IC# 1[4FCI4MC"IT HNH4QQB 1[?>1NN1@ 4N 4I 1YHC24Q1IM 6Q4M)A"MM"F1@ V"Q1 @C4F1M1> W초음파 검사의 평가 단계에서 기록되는 최소의 지시인 등가 평저공의 직경으로 표시된다$X
8$7
!16CICMC"I "6 +U +U W표면 불연속 검사의 정의X
8$7$/
01Q124IM CI@C#4MC"I W관련 지시X EI CI@C#4MC"I MV4M CN #4HN1@ AB 4 #"I@CMC"I #"I@CMC"I "> MB?1 "6 @CN#"IMCIHCMB MV4M >1YH >1YHC>1N C>1N 124QH4MC"I$ 124QH4MC"I$ *IQB MV1 CI@C#4MC"IN DVC#V V421 4IB @CF1INC"I 5>14M1> MV4I /$: FF NV4QQ A1 #"INC@1>1@ >1Q124IM$ W평가가 필요한 불연속의 상태 또는 모양에 따른 지시$ /$: FF 보다 큰 치수의 지시들만이 관련 지시로 판단된다$X
8$7$7
PCI14> CI@C#4MC"I W선형 지시X EI CI@C#4MC"I CI DVC#V MV1 Q1I5MV Q1I5MV CN 4M Q14 Q14NM NM MV>11 MCF1N MV1 DC@MV$ W길이가 폭의 8 배 이상인 지시X
8$7$8
&"I)QCI14> &"I)QCI14> CI@C#4MC"I W비선형 지시X EI CI@C#4MC"I "6 #C>#HQ4> "> 1QQC?MC#4Q NV4? NV4?1 1 DCMV 4 Q1I5MV Q1NN MV4I MV>11 MV>11 MCF1N MV1 DC@MV$ DC@MV$ W길이가 폭의 8 배 이하인 원형 혹은 타원형 모양의 지시X
8$7$9
EQC5I1@ CI@C#4MC"I W선상 지시X UV>11 "> F">1 CI@C#4MC"IN CI 4 QCI1T N1?4>4M1@ AB 7 FF "> Q1NN 1@51)M")1@51$ W8 개 혹은 그 이상의 지시가 7 FF 이하로 떨어져서 한 선상에 있을 때X
4.0
PERSONNEL REQUIREMENT REQUIREMENTS S [ 사원 요 ]
9$/
UV1 ?1>N"II1Q NV4QQ A1 YH4QC6C1@ 4I@ #1>MC6C1@ CI 4##">@4I#1 DCMV >1YHC>1F1IM "6 +&U)U-)/E "> R+* a4N"IC# CINM>HF1IMN CINM>HF1IMNTT NH#V 4N Z+& ;. "> (?"#V N1>C1N "> 1YHC24Q1IM 1YHC?F1IM NV4QQ A1 HN1@$ W펄스)에코 타입의 초음파 탐상 장비는 Z+&;. 또는 (?"#V 시리즈와 같은 또는 동등한 장비를 사용해야
한다$X
4N"IC# CINM>HF1IMN CN M" A1 1YHC??1@ DCMV !CNM4I#1 d4CI +Ce1 \!d+_ #H>21N @CN?Q4B ?>1N1IM4MC"I 6HI#MC"I "6 !d+ N#4Q1N 4MM4#V1@ M" MV1 N#>11I$ \C6 4??QC#4AQ1_ ?>1N1IM4MC"I 4??QC#4AQ1_ W거리게인크기\!d+_ 곡선을 표시할 수 있는 기능이 내장되거나 스크린에 !d+ 스케일은 부착되어야 한다$ \적용 시_X
4MC"I #V1#JCI5 QCI14>CMB W직선성 교정 점검X UV1 HQM>4N"IC# CINM>HF1IM NV4QQ A1 ?>"2C@1@ MV1 N#>11I V1C5VM QCI14>CMB 4I@ 4F?QCMH@1 #"IM>"Q QCI14>CMB 4N >1YHC>1@ U):;/ "6 E+,( c3h- +1#MC"I hT E>MC#Q1 :$ W초음파 장비는 E+,( c3h- +1#MC"I hT E>MC#Q1 : 의 U):;/ 의 요구에 따라 스크린 높이 직선성 및 진폭 조정
직선성을 제공해야 한다 $X
"A1N W탐촉자 X UV1 6"QQ"DCI5 M>4IN@H#1>N NV"HQ@ A1 HN1@$ 3Q4NMC# NV"1N F4B A1 HN1@ C6 I1#1NN4>B$ W아래의 탐촉자를 사용해야 한다$ 필요 시T 플라스틱 슈를 사용할 수 있다$X
U1NMCI5
S> S>1Y 1YH1 H1I# I#B B
,"@1 ,"@1QQ
,4g 4g"> "> NC NCe1 e1 \F \FF_ F_
01 0161 61>1 >1I# I#1 1 4I5Q 4I5Q1 1
+M>4C5VM c14F
7 ,Ke
c7+ "> 1YHC24Q1IM
!C4$ 79
. @15$
+M>4C5VM c14F \!H4Q_
9 ,Ke
+(c9 "> 1YHC24Q1IM
; i 7.
. @15$
EI5Q1 c14F \!H4Q_
9 ,Ke
h+ ;. "> 1YHC24Q1IM
8$:i/.
;. @15$
SCM MV1 ?>"A1 NV"1N 4QD4BN @H1 M" MV1 #4NMCI5 NV4?1 DV1I 4??QBCI5 ?>"A1N$ RI 4@@CMC"I4QQBT N14>#V HICM "6 "MV1> NCe1NT 6>1YH1I#C1N 4I@ "MV1> >16>4#MC"I 4I5Q1N F4B A1 HN1@ M" 4NNH>1 4@1YH4M1 ?1I1M>4MC"I "> A1MM1> >1N"QHMC"I$ W탐촉자가 주조 형상에 적용될 때에는 항상 탐촉자 슈가 접촉되어야 한다$ 적절한 입사 혹은 좋은 감도를 얻기 위해서 크기 및 주파수가 다른 탐촉자가 사용될 수 있다$X
CIT -,-\?4NM1_T "CQ 4I@ "MV1> 1YHC24Q1IM #"H?Q4IM$ UV1 N4F1 #"H?Q4IM M" A1 HN1@ @H>CI5 MV1 1[4FCI4MC"I NV4QQ A1 HN1@ 6"> #4QCA>4MC"I$ 사용 W사용 액체 매질의 점성은 탐촉자와 소재 표면 사이의 좋은 접촉을 제공하기 위하여 충분하여야 한다$ 글리세린T -,-\풀_T 오일 또는 다른 등가에 접촉 매질$ 검사 중에 사용할 접촉 매질과 동일한 접촉 매질을 교정에 사용하여야 한다$X
"?1> M1NM N1INCMC2CMB NH#V MV4M ; FF 6Q4M A"MM"F1@ V"Q1\N_ CI 4거리진폭교정 >161>1I#1 \!E-_ AQ"#J \"> N1>C1N AQ"#JN_$ W거리게인크기 \!d+_ 또는 기법은 ; "6 FF 평저공 대비시험편\또는 시험편 시리즈_에서 적절한 검사 감도를 설정하는데 사용해야 한다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' < "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING 16Q1#M">N M" MV1 @1?MV @1?MV "6 MV1 F4[CFHF M1NM M1NM @CNM4I#1 CI MV1 #4NMCI5$
W교정 시험편은 제품의 최대 두께까지를 인공 결함을 가지고 있어야 한다$X
D">N1 MV4I MV1 #4NMCI5 A1CI5 CIN?1#M1@$ *MV1>DCN1 MV1 CINM>HF1IM 54CI FHNM A1 CI#>14N1@ \M>4IN61>_ M" 4##"HIM 6"> @C661>1I#1N A1MD11I MV1 #4QCA>4MC"I AQ"#J 4I@ MV1 #4NMCI5$ W시험편의 표면 조건과 음파 감쇄는 검사할 제품과 유사하거나 나빠야 한다$ 이 조건을 만족 못할 때에는 실제
교정 시험편과 제품과의 차이를 보상해 주어야 한다$X
"A1 CN ?Q4#1@ ?Q4#1@ CI 4 D4B M" "AM4CI MV1 F4[CFHF F4[CFHF ?HQN1 1#V" "I MV MV1 1 >16Q1#M"> 5C2CI5 MV1 MV1 NM>"I51NM ?HQN1 4I@ MV1 4@gHNMF1IM CN F4@1 N" 4N M" A>CI5 CMN 4F?QCMH@1 M" =.f 4??>"[$ "6 MV1 V1C5VM "6 MV1 N#>11I$ W탐촉자는 반사원에서 가장 강한 펄스를 주는 화면 높이의 =.f 에 해당되는 진폭이 되도록 조정되며 이 최대
에코를 얻기 위한 방법으로 위치한다$X
N CN I"M1@$ UV1 #H>21 g"CICI5 MV1N1 ?"CIMN #"INMCMHM1N MV1 !E- #H>21$ ([#1?M CI MV1 #4N1 "6 NF4QQ MVC#JI1NN1NT MVCN #H>21 CN ?Q"MM1@ DCMV 4 FCICFHF "6 8 ?"CIMN$ W각각의 다른 반사원으로부터 수신된 에코의 최대 진폭이 기록된다$ 이러한 점을 연결한 곡선이 바로
거리진폭교정\!E-_ 곡선을 구성한다$ 얇은 두께의 경우는 제외하고T 이 곡선은 최소한 8 개의 점들로 그려 진다$X
1 MV1 NH>64#1 CN 1NN1IMC4QQB 6Q4M 4I@ ?4>4QQ1Q M" 4I "??"NCI5 6Q4M NH>64#1$ UV1 >161>1I#1 A4#J >16Q1#MC"I NV4QQ A1 "AM4CI1@ 4M MV1 ?"NCMC"I "I MV1 >161>1I#1 NH>64#1 MV4M ?>"@H#1N MV1 D14J1NM A4#J >16Q1#MC"I I"M 4MM>CAHM1@ M" 51"F1M>C# CIM1>61>1I#1$ W검사 감도는 평편하며 반대 면과도 수평인 면에서 결정되어야 한다$ 저면 반사파는 기하학적인 요인이 없는
반사파가 가장 약한 곳에서 얻어진다$X
4MC"I AQ"#J F4B A1 HN1@ HN1@ M" 1NM4AQCNV MV1 M1NM N1INCMC2CMB C6C6 MV1 #4NMCI5 V4N I" I" NHCM4AQ1 NH>64#1 6"> 1NM4AQCNVCI5 MV1 >161>1I#1 A4#J >16Q1#MC"I$ UV1 NH>64#1 #"I@CMC"I 4I@ N"HI@ 4MM1IH4MC"I "6 MV1 #4QCA>4MC"I AQ"#J FHNM A1 NCFCQ4> "> D">N1 MV4I MV1 #4NMCI5 A1CI5 CIN?1#M1@$ *MV1>DCN1 MV1 CINM>HF1IM 54CI FHNM A1 CI#>14N1@ \M>4IN61>_ M" 4##"HIM 6"> @C661>1I#1N A1MD11I MV1 #4QCA>4MC"I AQ"#J 4I@ MV1 #4NMCI5$ W적절한 기준 반사파를 얻을 수 없을 경우 교정 시험편을 감도 설정을 위하여 사용할 수 있다$ 시험편의 표면
조건과 음파 감쇄는 검사할 제품과 유사 하거나 악조건이어야 한다$X
4M1 M>4INFCMM1> O >1#1C21>T MV1 F4IH64#MH>1>N NH551NM HNCI5 4A4#HN MB?1 !d+ N#>11IN DVC#V 4>1 ?Q4#1@ "I MV1 4??4>4MHN N#>11I \NH??">M1@ 14#V 1Q1#M>"IC# #H>21 CI @C5CM4Q 1YHC?F1IM_$ E#"HNMC# 4AN">?MC"I >1NHQMCI5 6>"F MV1 F4M1>C4Q FHNM I"M A1 I15Q1#M1@ 4I@ MV1 F1MV"@ "6 #">>1#MC"I "6 HQM>4N"IC# 1I1>5B 4AN">?MC"I @1N#>CA1@ @1N#>CA1@ CI MV1 !E- F1MV"@ CN 4??QC#4AQ1$ UV1 4@gHNMF1IM "6 N1INCMC2CMB CN "AM4CI1@ 6>"F MV1 >161>1I#1 1#V" DVC#V CN A>"H5VM M" MV1 N#>11I "6 MV1 HQM>4N"IC# 4??4>4MHN M" 4 5C21I >161>1I#1 V1C5VM$ W대부분의 표준 탐촉자와 송O수신 분리된\듀얼_ 탐촉자에 있어 제조자는 장비의 화면\+#>11I_에 판형\받침_으로 배치되는 !d+ 화면\+#>11I_의 사용이 제안된다$ \디지털 장비에서 지원되는 각각의 전자적인 선도_
재료로 인한 음향 흡수는 무시할 수 없으며 거리진폭교정\!E-_ 곡선 방법에서 설명한 초음파 에너지 흡수의 보정 방법이 적용 가능하다$ 감도 조정은 주어진 기준 높이의 초음파 장비의 화면\N#>11I_에서 가져온 기준 에코로부터 얻어진다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' = "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING
1 #V1#J1@ AB D4M#VCI5 MV1
@BI4FC# #V4>4#M1>CNMC# 4M 4I 4N #4NM >"H5V NH>64#1 4I@O"> F4#VCI1@ NH>64#1 NM4I@CI5 ?1>?1I@C#HQ4> M" MV1 CI#C@1IM NH>64#1$ W듀얼 사각 빔 탐촉자의 감도와 시험 시스템은 입사면에 수직으로서 황삭 된 주조 표면 및O또는 정삭 표면의
동적 특성을 관찰하여 검사한다$X $X
1 W검사 절차 X
C"@C#4QQB #V1#J MV1 M1NMCI5 N1INCMC2CMB "6 MV1 1YHC?F1IM$ ,4J1 MV1N1 #V1#JN ?>C"> M" 1YHC?F1IM NVHM@"DI 46M1> 1[4FCI4MC"I 4I@ 4M Q14NM 121>B 6"H> V"H>N "6 #"IMCIH"HN 1YHC?F1IM "?1>4MC"I$ R6 @H>CI5 4IB #V1#J MV1 M1NM N1INCMC2CMB CN F">1 MV4I /. f 6>"F MV1 >1YHC>1F1IMT 4QQ "6 MV1 ?>"@H#M MV4M V4N A11I M1NM1@ NCI#1 MV1 Q4NM 24QC@ #V1#J NV4QQ A1 >11[4FCI1@$ W주기적으로 장비의 검사감도를 점검한다$ 이러한 점검은 검사 후 장비 끄기 전 및 연속적인 장비사용의 매 9 시간 마다 실시한다$ 만약 검사 감도 점검 동안에 요구사항의 /. f 이상이면T 최종 유효한 점검 이래 검사된 모든 제품에 대하여 재검사를 수행한다$X
#V 6"> @161#MN CN F4@1 DCMV 4I 4@gHNMF1IM #">>1N?"I@CI5 #">>1N?"I@CI5 M" 4N 5>14M 4 N1INCMC2CMB 4N ?"NNCAQ1 #"INC@1>CI5 MV1 1Q1#M>"IC# I"CN1 \5>4NN_ \4??>"[CF4M1QB j ; @c_$ W결함 검출은 전기적 잡음을 고려하여 가능한 큰 감도로 조정하여 사용해야 한다$ \약 j ; @c_X
#VCI5 6"> @161#MN W결함 검출 방법X
1#MC"I W주사 방향X E F4IH4Q #"IM4#M N#4IICI5 F1MV"@ NV4QQ A1 HN1@$ EQQ NH>64#1N N?1#C6C1@ 6"> HQM>4N"IC# NV4QQ A1 #"F?Q1M1QB CIN?1#M1@ 6>"F A"MV NC@1T DV1I121> A"MV NC@1N 4>1 4##1NNCAQ1$ kV1I M1NMCI5 6>"F "I1 NC@1 "IQBT @H4Q ?>"A1N NV4QQ A1 HN1@ 4@@CMC"I4QQB 6"> MV1 @1M1#MC"I "6 @CN#"IMCIHCMC1N #Q"N1 M" MV1 NH>64#1$ U1NMCI5 DCMV @H4Q ?>"A1N CN "IQB 4@1YH4M1 6"> D4QQ MVC#JI1NN1N H? M" :. FF$ W수동 접촉 주사법을 사용한다$ 초음파탐상검사를 수행하도록 규정된 모든 표면은 양면이 모두 접근할 수
있다면 양면에서 완전히 검사해야 한다$ 한쪽 면만 시험할 경우T 표면에 가까운 불연속을 탐지하기 위하여 듀얼 탐촉자를 추가적으로 사용하여야 한다$ 듀얼 탐촉자를 사용한 시험은 벽 두께가 :. FF 까지만 적용할 수 있다$X
Q4? AB 4M Q14NM /. f "6 MV1 DC@MV "6 MV1 M>4IN@H#1> 6"> 14#V NH##1NNC21 N#4IICI5 ?4NN$ W탐촉자는 각각의 연속적인 주사를 위하여 진동자 폭의 /. f이상을 중첩하여야 한다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' a "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING 4M "I1)NC@1@ 4##1NNCAQ1 4>14N 4>14N
!H4Q NM>4C5VM
W단면 두께 :. FF까지 또는 한방향 접근 지역X
E@@CMC"I4Q M1NM NH>64#1 W추가 시험 표면X ) >CN1> ?"NCMC"I 4I@ 6CQQ1MN W압탕 위치 및 필렛부X ) 4M ?>"I"HI#1@ #V4I51N CI #>"NN N1#MC"I D4QQ MVC#JI1NN M>4INCMC"I >4@CHN \#"I#421_ W뚜렷한 단면 변화부의 전환 반경 \오목_X
) g"CIM D1Q@ ?>1?4>4MC"IN 6"> 4 @CNM4I#1 "6 :. FF 6>"F MV1 1@51 W용접 이음부의 개선 끝단에서 :. FF 거리X ) F4#VCI1@ 4>14 \A"QM V"Q1 ?"NCMC"INT A">1 CINC@1 NH>64#1_ NH>64#1_ W정삭 영역 \볼트 구멍 영역T 홀 내부 표면_X E@@CMC"I4Q M1NM NH>64#1 W추가 시험 표면X ,4#VCI1@ 4>14 \A">1 CINC@1 NH>64#1_ NH>64#1_
H? M" @1?MV :. FF W깊이 :. FF 까지X
!H4Q NM>4C5VM
H? M" @1?MV :. FF W깊이 :. FF 까지X
!H4Q 4I5Q1
W정삭 영역 \홀 내부 표면_X
1' W조사되어야 할 지시는 다음과 같다X
F1@C4M1 RIM1>F1@C4M1 1#V"1N \1#V" CI@C#4MC"IN "6 @CN#"IMCIHCMC1N_ @CN#"IMCIHCMC1N_ W중간 에코 \불연속 에코 지시_X
"F MV1 @CNM4I#1 4F?QCMH@1 #H>21 \!E-_ "AM4CI1@ "21> MV1 ScK$ W거리진폭교정\!E-_ 곡선의 진폭 치수는 평저공을 통해 얻어진다$X
M1@ 14#V 1Q1#M>"IC# #H>21 CI @C5CM4Q 1YHC?F1IM "> #"F?4>1@ M" MV1 !d+ 4A4#HN #H>21N 6"> MV1 N4F1 N"IC# ?4MV 4I@ CI MV1 ">C5CI4Q 4@gHNMF1IM #"I@CMC"IN$ UV1 @15>11 "6 MV1 CI@C#4MC"I CN 1[?>1NN1@ CI 1YHC24Q1IM @C4F1M1> W지시에서 얻어진 최대 진폭은 같은 음파 경로에 대한 최초의 조정 조건인 디지털 장비에서 지원되는 각각의
전자적인 선도 또는 거리게인크기 받침 타입의 화면\!d+ 4A4#HN N#>11I_과 비교된다$ 지시의 정도는 상응하는 직경으로 표시된다$X
1N1I#1 "6 4 @CN#"IMCIHCMB AHM 4QN" ?""> #"H?QCI5 "6 MV1 N14>#V HICM DCMV MV1 NH>64#1 "6 MV1 #4NMCI5T I"I?4>4QQ1Q I"I?4>4 QQ1Q A4#J)>16Q1#MC"I NH>64#1T "> Q"#4Q 24>C4MC"IN "6 4MM1IH4MC"I CI MV1 #4NMCI5$ 01#V1#J 4IB 4>14N #4HNCI5 Q"NN "6 A4#J >16Q1#MC"I$ W주조품을 검사하는 동안 저면반사 진폭이 심각한 감소를 일으키는지 관찰한다$ 저면반사 진폭의 감소는
불연속의 존재를 나타낼 뿐 아니라 주조품의 국부적 감쇠변화T 평행하지 않은 저면반사 표면 또는 주조품 표면과 탐촉자의 접촉불량을 나타낼 수도 있다$ 저면반사의 손실을 일으키는 표면은 재검사 한다$X
NCeCI5 CI@C#4MC"IN W지시크기 측정방법X
1 CI@C#4MC"IN 4>1 @1M1#M1@ 4M MV1 N#4IICI5 N1INCMC2CMBT N1INCMC2 CMBT MV1 1[4FCI4MC"I NV4QQ A1 ?1>6">F1@ "I MV1 N4F1 4>14 454CINM 4M MV1 N1INCMC2CMB 6"> 124QH4MC"I$ R6 I1#1NN4>BT "MV1> ?>"#1@H>1N "> N#4IICI5 F1MV"@N 4>1 M" A1 1F?Q"B1@ M" CI21NMC54M1 MV1 I4MH>1 "6 CI@C#4MC"I$ W주사 감도에서 지시가 검출된 곳에서T 평가 감도로 동일 부위에 대해 재 수행되어야 한다$ 필요 시T 다른
절차나 탐상 방법이 지시의 특성을 조사하기 위해 적용될 수 있다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /. "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING "A1 NV"HQ@ A1 N1Q1#M1@ MV4M ?>"@H#1N MV1 NF4QQ1NM ?"NNCAQ1 A14F DC@MV 4M MV1 Q"#4MC"I "6 MV1 CI@C#4MC"I$ R6 4 NHCM4AQ1 ?>"A1 CN I"M 424CQ4AQ1T MV1I MV1 ?>"A1 HN1@ 6"> @1M1#MC"I F4B A1 HN1@$ W탐촉자는 지시 위치에서 가능한 가장 작은 빔폭을 생성하는 것을 선택하여야 한다$ 만약T 적절한 탐촉자를 이용할 수 없다면T 검사에 사용된 탐촉자를 사용한다$X
1@ HNCI5 MV1 V4Q6)4F?QCMH@1 V4Q6)4F?QCM H@1 \; @c)@>"?_ M1#VICYH1 4I@ #">>1#M1@ #"INC@1>CI5 MV1 M>4IN@H#1> A14F @C21>51I#1 \) ; @c A14F DC@MV_ 4M MV1 1NMCF4M1@ CI@C#4MC"I @1?MV$ \) ; @c A14F DC@MV_ 을 W지시의 길이는 ; @c)@>"? 기법으로 측정하고 평가되는 지시 깊이에서 탐촉자 빔 분산 \)
고려하여 수정되어야 한다$X
FN "6 MV1 4##1?M4I#1 #>CM1>C4 "6 ?4>4$/.$.$ W모든 관련 지시는 /.$. 항의 합부 판정으로 평가할 수 있는 범위까지 조사되어야 한다$X
8.0
REQUIREMENTS FOR MT [자분탐상 사의 요구사항]
=$/
(YHC?F1IM W장비X UV1 1YHC?F1IM @1N#>CA1@ CI A1Q"D MV1 M4AQ1 "> 1YHC24Q1IM 1YHC?F1IM NV4QQ A1 HN1@ 4I@ MV1 C@1IMC6C#4MC"I IHFA1> "6 MV1 1YHC?F1IM HN1@ NV4QQ A1 I"M1@ "I MV1 1[4FCI4MC"I >1?">M$ W자화 장비는 아래 표 또는 동등한 장비가 사용되어야 하며T 사용되는 장비의 식별번호가 검사보고서에
기록되어야 한다$X U1#VI 1#VICY CYH1 H1
,4 ,4IH IH64 64#M #MH> H>1 1
," ,"@1 @1QQ
-H>> -H>>1I 1IMM MB?1 MB?1
mBHI5 !" \m">14_
m/:.. "> 1YHC24Q1IM
Kk
,45I46QH[ \dFAK_
S1>>"M1NM dkK 9. "> 1YHC24Q1IM
Kk
mBHI5 !" \m">14_
,3)E8T ,3)E7 "> 1YHC24Q1IM
E-
,L ,L)7 )7 "> 1YHC24Q1IM
E-
3>"@
4
L"J1 &4D"" \m">14_ 4
EQM1>I4MCI5 -H>>1I M \E-_ 1Q1#M>"F45I1MC# B"J1 NV4QQ A1 W교류 요크의 -H>>1IM 경우 검사하고자 하는 최종면에 이용할 수 있다 $X HMCQCe1@ 6"> 6CI4Q NH>64#1 CIN?1#MC"IN$ =$/$/
3>"@ F1MV"@ W프로드법X
=$/$/$/
,45I1MCeCI5 M1#VICYH1 M1#VICYH1 W자화 방법X E >1F"M1 #"IM>"Q NDCM#V NV4QQ A1 HN1@ M" MH>I MV1 #H>>1IM "I 46M1> MV1 ?>"@N V421 A11I ?>"?1>QB ?"NCMC"I1@ 4I@ M" MH>I CM "66 A16">1 MV1 ?>"@N 4>1 >1F"21@ CI ">@1> M" ?>121IM 4>#CI5$ W원격제어 스위치는 프로드를 올바르게 위치한 후 전류를 켜고 아크를 방지하기 위해 프로드를 제거하기 전에
스위치를 끄기 위해 사용해야 한다$X
=$/$/$7
P"#4Q 4>14N "6 #"F #"F?Q1[ ?Q1[ #"F?"I1I #"F?"I1IMN MN F4B A1 F45I1MCe1@ F45I1MCe1@ AB 1Q1#M>C#4Q 1Q1#M>C#4Q #"IM4#MN F4IH4QQB #Q4F?1@ "> 4MM4#V1@ DCMV F45I1MC# Q11#V1N M" MV1 ?4>M$ W복잡한 기기의 국부 영역의 전기 접촉을 위해 수동으로 고정\-Q4F?_하던가 또는 자석척을 그 부품에
부착시켜 자화시킬 수 있다$X
=$/$/$8
3>"@ N?4#CI5 NV4QQ I"M A1 Q1NN MV4I :. FF \7 CI$_ "> 5>14M1> MV4I 7.. FF \= CI$_$ W프로드 간격은 :. FF \7 CI$_ 미만이거나 7.. FF \= CI$_를 초과해서는 안된다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' // "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING =$/$/$9
=$/$/$:
,45I1MCeCI5 #H>>1IM NV4QQ A1 4@gHNM1@ MV1 6"QQ"DCI5 6"QQ" DCI5 24QH1$ W자화 전류는 다음 값을 조정해야 한다$X
,4M1>C4Q UVC#JI1NN W재료 두께X Z? M" /a FF \8O9 CI$_
-H>>1IM W전류X 8$: n 9$: EOFF \a. n //. EOCI$_ "6 ?>"@ N?4#CI5$
*21> /a FF \8O9 CI$_
9 n : EOFF \/.. n /7: EOCI$_ "6 ?>"@ N?4#CI5$
UV1 ?>"@ F1MV"@ NV4QQ I"M A1 4??QC1@ 46M1> 6CI4Q V14M M>14MF1IM 4I@ 6CI4Q NH>64#1$ W프로드법은 최종 열처리 및 최종 표면 후에는 적용할 수 없다$X
=$/$/$;
EI 1[M1>I4Q 4FF1M1> F4B A1 HN1@ CI ?Q4#1 "6 MV1 F45I1MC# ?4>MC#Q1 M1NMCI5 HICMoN CIM1>I4Q 4FF1M1>$ EFF1M1> NV"HQ@ A1 F"ICM">1@ 6>1YH1IMQB @H>CI5 MV1 4??QC#4MC"I "6 MV1 F45I1MCeCI5 #H>>1IM$ W장비 내부에 내장된 전류계 대신 외부 전류계를 사용할 수 있다$ 전류계는 자화 전류 통전 시 자주
모니터링해야 한다$X
=$/$7
L"J1 F1MV"@ W요크법X E- 1Q1#M>"F45I 1Q1#M>"F45I1MC# 1MC# B"J1N \"> 4 ?1>F4I ?1>F4I1IM 1IM F45I1M_ NV4QQ A1 HN1@ M" F45I1MCe1 ?>"2C@1@ MV4M MV1 QC6MCI5 ?"D1> "6 MV1 B"J1 CN 4M Q14NM 9$: J5 \/. QA_ DCMV F4[CFHF ?"Q1 N?4#CI5 N?4#CI5$$ R6 4 K4QQ)1661#M \M4I51IMC4Q 6C1Q@ NM>1I5MV_ ?>"A1 CN HN1@T CM NV4QQ A1 ?Q4#1@ "I MV1 NH>64#1 FC@D4B A1MD11I MV1 ?"Q1N$ UV1 >1YHC>1F1IM >1YHC>1F1IM 6C1Q@ NM NM>1I5MV >1I5MV CN FCICFHF 7$9 mEOF$ [교류(AC) 전자석 요크 (또는 영구 자석)의 인상력은 최대 극간 거리에서 최소 4.5 kg (10 lb)를 가져야 한다. 만약 홀 효과(접선 자계 강도) 탐촉자를 사용할 경우, 두개의 극(Pole) 사이의 표면 중간에 위치해야 한다. 요구되는 자계 강도는 최소 2.4 KA/m 이어야 한다.]
=$7
h1>C6C#4MC"I "6 F45I1MCe4MC F45I1MCe4MC"I "I W자화의 확인X UV1 E+U, ( -p)98. NVCF MB?1 "> 1YHC24Q1IM CI@C#4M">N NV"HQ@ A1 HN1@ M" @1M1>FCI1 MV1 4@1YH4#B "6 MV1 F45I1MC# 6C1Q@ @C>1#MC"I$ RI@C#4M"> NV4QQ A1 ?"NCMC"I1@O4MM4#V1@ ?"NCMC"I1@ O4MM4#V1@ M" MV1 NH>64#1 M" A1 1[4FCI1@T NH#V MV4M MV1 #"??1> ?Q4M1O4>MC6C#C4Q ?Q4M1O4>MC6C#C4Q 6Q4D NC@1 CN M"D4>@ MV1 CIN?1#MC"I NH>64#1$ W자기장 방향의 충분함을 결정하기 위해 E+U, ( MC#Q1N W자분X ,45I1MC# ?4>MC#Q1N NV4QQ A1 HN1@ 4N MV1 @>B \6"> 3>"@ M1#VICYH1_ "> D1M \6"> L"J1 M1#VICYH1_ F45I1MC# ?4>MC#Q1$ UV1 F45I1MC# ?4>MC#Q1N NV4QQ A1 MV1 ?>"@H#M "6 MV1 ,45I46QH[T N?>4B #4I MB?1 F4M1>C4QN "> 1YHC24Q1IM$ E MVCI #"4MCI5 "6 #"IM>4NM ?4CIM CN ?1>FCNNCAQ1 DV1I HNCI5 F45I1MC# ?4>MC#Q1 M1#VICYH1N$ EN 6"QQ"DNq W자분은 건식 \포로드 기법_ 또는 습식 \요크 기법_ 자분을 사용하며T 마그나플럭스T 분사식 캔 제품 또는
동등한 제품을 사용해야 한다$ 자분탐상검사 기법을 사용할 때는 페인트로 대비를 위한 얇은 코팅은 허용된다$X UB?1
,4IH64#MH>1
,"@1Q
01F4>J
!>B r &"I 6QH">1N#1IM
,45I46QH[ \Z+E_
=E "> 1YHC24Q1IM
3"D@1>N \01@_
k1M ) SQH">1N#1IM
,45I46QH[ \Z+E_
/9E "> 1YHC24Q1IM
3"D@1>N \L1QQ"D \L1QQ"D 5>11I_
k1M r &"I 6QH">1N#1IM
&4D"" \m">14_
&,3)c "> 1YHC24Q1IM
-4I \cQ4#J_
k1M ) SQH">1N#1IM
&4D"" \m">14_
&,3)S "> 1YHC24Q1IM
-4I \L1QQ"D \L1QQ"D 5>11I_
-"IM>4NM ?4CIM
&4D"" \m">14_
&,3)/ "> 1YHC24Q1IM
-4I \DVCM1_
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /7 "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING =$8$/
S"> 2CNCAQ1 F45I1MC# ?4>MC#Q1NT MV1 #"Q"> "6 MV1 ?4>MC#Q1N NV4QQ A1 N1Q1#M1@ M" BC1Q@ MV1 VC5V1NM #"IM>4NM DCMV MV1 ?4>M$ UV1 QC5VMCI5 NV4QQ F11M MV1 >1YHC>1F1IMN "6 =$9$/$ W비형광 자분의 경우 자분의 색상은 피검체와 색상대비가 가장 좋은 자분을 선택하여 사용하며T 광도는 =$9$/ 항의 요건을 만족하여야 한다$X
=$8$7
kV1I HNCI5 4 @>B F45I1MC# ?4>MC#Q1 F1MV"@T MV1 ?4>MC#Q1N 4>1 4??QC1@ HNCI5 4 @>B ?"D@1> 4??QC#4M">$ UV1 ?4>MC#Q1N F4B A1 F"ACQCe1@ "I#1 4??QC1@ M" MV1 ?4>M HNCI5 4I 4C> AHQA "> 1YHC24Q1IM N"H>#1 DVC#V DCQQ ?>"2C@1 4 Q"D 21Q"#CMBT Q"D ?>1NNH>1 4C> 6Q"D$ W건식 자분의 경우 자분 살포기를 사용하여 적용한다$ 자분 유동을 위해 낮은 속도T 낮은 공기 압력의 공기
벌브\4C> AHQA_를 사용한다$X
=$8$8
31M>"Q1HF @CNMCQQ4M1 "> D4M1> CN M" A1 HN1@ 4N MV1 21VC#Q1T NHCM4AQ1 #"I@CMC"ICI5 451IMN NV"HQ@ A1 4@@1@ 4N ?1> F4IH64#MH>1> >1#"FF1I@4MC"IN$ W석유 증류 또는 물을 현탁액으로 사용할 때 약제의 혼합은 제작자의 사양에 따른다$X
=$8$8$/
R6 D4M1> CN M" A1 HN1@ HN1@ 4N MV1 21V 21VC#Q1T C#Q1T NHCM4AQ1 NHCM4AQ1 #"I@CMC"ICI5 #"I@CMC"ICI5 451IMN NV"HQ@ A1 4@@1@ 4@@1@ NH#V 4N 4N D1MMCI5 451IMNT #">>"NC"I 4I@ >HNM CIVCACM">NT @CN?1>NCI5 451IMNT 4I@ 4IMC)6"4FCI5 451IMN$ W물을 현탁액으로 사용할 경우 수적 방지제T 방청제T 분산제T 거품 방지제등의 약제를 적당히 혼합하여
사용한다$X
=$8$8$7
c16">1 MV1 H HN1 N1 "6 4 NHN? NHN?1INC"IT 1INC"IT MV1 #" #"I#1IM>4MC"I I#1IM>4MC"I "6 ?4>MC#Q1N ?4>MC#Q1N 4I@ #"IM4FCI4MC"I #"IM4FCI4MC"I "6 MV1 NHN?1INC"I FHNM A1 #V1#J1@$ UV1N1 #V1#JN NV4QQ A1 F4@1 46M1> CICMC4Q FC[CI5T @4CQB 4I@ 4M 4IB MCF1 MV1 FC[CI5 F"M"> CN MH>I1@ "66$ UV1 NHN?1INC"I NV4QQ A1 4QQ"D1@ M" #C>#HQ4M1 6"> 8. FCIHM1N FCICFHFT MV1I MV1 #"I#1IM>4MC"I NV4QQ A1 #V1#J1@ HNCI5 4 #1IM>C6H51 MHA1$ E /.. FQ N4F?Q1 NV4QQ A1 4QQ"D1@ M" N1MMQ1 6"> ;. FCIHM1N 4I@ NV4QQ >1NHQM CI 4 #"I#1IM>4MC"I "6 /$7 FQ M" 7$9 FQ 6"> I"I)6QH">1N#1IM ?4>MC#Q1N 4I@ .$/ FQ M" .$9 FQ 6"> 6QH">1N#1IM HIQ1NN "MV1>DCN1 N?1#C6C1@ AB MV1 N?1#C6C# CINM>H#MC"I A1CI5 4??QC1@$ -"IM4FCI4MC"I NV4QQ I"M CIM1>61>1 DCMV M1NMCI5$ W현탁액 사용 전T 자분 농도 및 현탁액의 오염도를 점검해야 한다$ 이러한 점검은 최초 혼합시T 매일 및 교반
모터의 정지 시 수행한다$ 현탁액은 최소 8. 분 이상 교반하며T 농도는 침전관을 이용하여 점검한다$ 별도의 시방서에 규정된 경우를 제외하고 시료 /.. FQ 를 ;. 분 동안 침전시켜 침전된 양이 비형광 자분의 경우 /$7n7$9 FQ 이고 형광 자분의 경우 .$/n.$9 FQ 가 합격 농도이다$ 오염이 검사에 방해가 되어서는 안 된다$X
=$8$9
S"> 6QH">1N#1IM F45I1MC# ?4>MC#Q1NT 4I Zh)E \AQ4#J_ QC5VM CN >1YHC>1@$ UVCN QC5VM NV4QQ F11M MV1 >1YHC>1F1IMN >1YHC>1F 1IMN "6 =$9$7$ W형광 자분의 경우 Zh)E\자외선_ 광원이 요구된다$ 광원은 =$9$7 항이 요건을 만족하여야 한다$X
=$9
hC1DCI5 #"I@CMC"IN W관찰 조건X
=$9$/
UV1 M1NM NH>64#1 NV4QQ A1 CIN?1#M1@ HI@1> @4BQC5VM "> HI@1> 4>MC6C#C4Q DVCM1 QC5VM DCMV 4I CQQHFCI4I#1 "6 I"M Q1NN MV4I /T.M$ UV1 2C1DCI5 #"I@CMC"IN NV4QQ A1 NH#V MV4M 5Q4>1 4I@ >16Q1#MC"IN 4>1 42"C@1@$ W검사표면은 검사될 부위의 표면에서 /T.NM""@ 4N 4 #"FACI4MC"I "6 MV1 6"QQ"DCI5 M1NMCI5 F4M1>C4QN' ?1I1M>4IMT 1[#1NN ?1I1M>4IM >1F"21> 4I@ @121Q"?1>\UB?1 RRT ,1MV"@ -T S">F @_$ UV1 6"QQ"DCI5 N?>4B #4I MB?1 F4M1>C4QN NV4QQ A1 HN1@$ W제품군은 후속공정 침투 탐상검사 재료의 조합으로서 이해되어야 한다' 침투액T 과잉 침투액의 제거 및
현상제\UB \UB?1 ?1 RRT ,1MV"@ -T S">F @_$ 다음의 분사식 캔 제품을 사용해야 한다$X ,4M1 ,4 M1>C >C4Q 4Q
a$/$/
,4 ,4IH IH64 64#M #MH> H>1> 1>
,"@1 ,"@1QQ
01F4 01F4>J >JN N
31I1M>4IM
-"Q"H> #"IM>4NM
UB?1 UB?1 RR
&4D""
&337
+"Q21IM >1F"21>
01F"21>
+"Q21IM
,1MV"@ -
&4D""
&30/)8
)
!121Q"?1>
+"Q21IM)A4N1@
S">F @
&4D""
&3!9
)
hC1DCI5 #"I@CMC"IN W관찰 조건X UV1 M1NM NH>64#1 NV4QQ A1 CIN?1#M1@ HI@1> @4BQC5VM "> HI@1> 4>MC6C#C4Q DVCM1 QC5VM DCMV 4I CQQHFCI4I#1 "6 I"M Q1NN MV4I /T.M$ UV1 2C1DCI5 #"I@CMC"IN NV4QQ A1 NH#V MV4M 5Q4>1 4I@ >16Q1#MC"IN 4>1 42"C@1@$
W검사표면은 검사될 부위의 표면에서 /T.BCI5 46M1> #Q14ICI5$ #Q14ICI5$ W표면 전처리와 건조X RM NV4QQ A1 4N NV"DI CI 34>4$ ;$.$ W;$. 항에 따라야 한다$X
a$7$7
E??QC#4MC"I E??QC#4MC "I "6 ?1I1M>4IM W침투제의 적용X
a$7$7$/
,1MV"@N "6 4??QC#4MC"I W적용 방식X UV1 ?1I1M>4IM #4I A1 4??QC1@ M" MV1 ?4>M M" A1 M1NM1@ AB N?>4BCI5T A>HNVCI5T 6Q""@CI5T @C??CI5 "> CFF1>NC"I$ -4>1 NV4QQ A1 M4J1I M" 1INH>1 MV4M MV1 M1NM NH>64#1 >1F4CIN #"F?Q1M1QB D1MM1@ MV>"H5V"HM MV1 1IMC>1 ?1I1M>4MC"I MCF1$ W침투제는 검사되는 부위에 분사T 붓칠T 부음T 침적 및 잠김 방식에 의해서 적용될 수 있다$ 주의되는 부분은
충분한 침투시간을 통하여 검사 될 부위가 전체적으로 침투제가 침투되어야 되는 것을 보장해야 한다$X
a$7$7$7
U1F?1>4MH>1 W온도X UV1 M1F?1>4MH>1 "6 MV1 ?1I1M>4IM 4I@ MV1 NH>64#1 "6 MV1 ?4>M M" A1 ?>"#1NN1@ NV4QQ I"M A1 A1Q"D /. t- I"M 4A"21 :. t- MV>"H5V"HM MV1 1[4FCI4MC"I ?1>C"@$ kV1>1 CM CN I"M ?>4#MC#4Q M" #"F?QB DCMV MV1N1 M1F?1>4MH>1 QCFCM4MC"INT P"#4Q V14MCI5 "> #""QCI5 CN ?1>FCMM1@ ?>"2C@1@ MV1 ?4>M M1F?1>4MH>1 >1F4CIN CI MV1 >4I51 "6 /. t- M" :. t- @H>CI5 MV1 1[4FCI4MC"I$ S"> M1F?1>4MH>1N 6>"F : t- M" /. t-T FCICFHF ?1I1M>4IM @D1QQ MCF1 NV4QQ A1 7 MCF1N MV1 24QH1 QCNM1@$ RI N?1#C4Q #4N1N M1F?1>4MH>1N 4N Q"D 4N : t- F4B A1 HN1@$ W침투제와 적용표면 온도는 검사하는 동안 /. t- 에서 :. t- 사이어야 한다$ 허용 온도 이외의 장소에서
검사를 실시한다면T 검사하는 동안 /. t- 에서 :. t- 사이의 온도를 유지하기 위해 국부적인 가열이나 냉각이 허용된다$ : t- 에서 /. t- 의 온도범위에서는 침투제 적용 시간의 7 배를 주어야 한다$ 특별한 경우에는 :t- 보다 낮은 온도에서 진행 되기도 한다$X
a$7$7$8
!H>4MC"I "6 ?1I1M>4MC"I W침투 시간X UV1 ?1I1M>4MC"I MCF1 #4I 24>B 6>"F : FCI M" ;. FCI$ UV1 @H>4MC"I "6 ?1I1M>4MC"I CN 4M Q14NM : n /. FCIHM1NT C6 I"M "MV1>DCN1 N?1#C6C1@$ ZI@1> I" #C>#HFNM4I#1N F4B MV1 ?1I1M>4IM @>B @H>CI5 MV1 ?1I1M>4IM ?>"#1NN$ W침투시간은 : 분에서 ;. 분까지 다양할 수 있다$ 달리 지정되지 않은 경우 침투 시간은 적어도 : n /. 분이다$
어떠한 경우에도 침투 과정 중 침투 건조는 안 된다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /; "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING
a$7$8
([#1NN ?1I1M>4IM >1F"24Q W과잉 침투액 제거X ([#1NN ?1I1M>4IM NV4QQ A1 >1F"21@ 6C>NM AB HNCI5 4 #Q14I QCIM v 6>11 #Q"MV$ +HAN1YH1IM #Q14ICI5 DCMV 4 #Q14I QCIM v 6>11 #Q"MV QC5VMQB F"CNM1I1@ DCMV N"Q21IM NV4QQ MV1I A1 #4>>C1@ "HM$
W과잉 침투액은 첫번째로 보푸라기 없는 천에 의해 제거되어야 한다$ 차후는 보푸라기 없는 천에 세척제를
적당히 묻혀서 제거되어야 한다$X
a$7$9
!>BCI5 W건조X UV1 M1NM NH>64#1 NV4QQ A1 @>C1@ 4N YHC#JQB 4N ?"NNCAQ1 46M1> 1[#1NN ?1I1M>4IM >1F"24Q HNCI5 AB I"F4Q 124?">4MC"IT AQ"MMCI5T DC?CI5T "> 6">#1@ 4C>$ W검사 표면은 과잉침투액 제거 후 일반적인 증발T 닦기T 압력 공기를 사용한 후에 가능한 빨리 건조되어야
한다$X
a$7$:
E??QC#4MC"I E??QC#4MC "I "6 @121Q"?1> W현상제의 적용X
a$7$:$/
UV1 @121Q"?1> NV4QQ A1 F4CIM4CI1@ CI 4 HIC6">F #"I@CMC"I @H>CI5 HN1 4I@ NV4QQ A1 121IQB 4??QC1@ M" MV1 M1NM NH>64#1$ UV1 4??QC#4MC"I "6 MV1 @121Q"?1> NV4QQ A1 #4>>C1@ "HM 4N N""I 4N ?"NNCAQ1 46M1> MV1 >1F"24Q "6 1[#1NN ?1I1M>4IM$ W현상제은 사용하는 동안 동일한 형태로 유지되어야 하고T 검사 표면에 고르게 적용되어야 한다$ 현상액의
적용은 과잉 침투액이 제거되고 가능한 빨리 적용되어야 한다$X
a$7$:$7
UV1 @121Q"?1> NV4QQ A1 4??QC1@ AB N?>4BCI5 HIC6">FQB$ UV1 N?>4B NV4QQ A1 NH#V MV4M MV1 @121Q"?1> 4>>C21N NQC5VMQB D1M "I MV1 NH>64#1T 5C2CI5 4 MVCIT HIC6">F Q4B1>$ W현상액은 스프레이에 의해 균일하게 적용된다$ 분무는 현상제가 얇고 균일한 층을 이루어 표면에 가볍게
젖도록 적용해야 한다$X
a$7$:$8
UV1 @121Q"?F1IM MCF1 NV"HQ@ A1 A1MD11I /. FCI 4I@ ;. FCIq UV1 @H>4MC"I "6 "6 !121Q"?F1IM CN 4M Q14NM /. n /: FCIHM1NT C6 I"M "MV1>DCN1 N?1#C6C1@$ W현상시간은 /. 분에서 ;. 분 사이여야 한다q 달리 지정되지 않은 경우 침투 시간은 적어도 /. n /: 분이다$X
a$7$;
RIM1>?>1M4MC"I W판독X
a$7$;$/
RIM1>?>1M4MC"I RIM1>?>1M4M C"I "6 CI@C#4MC"IN CI@C#4MC "IN NV"HQ@ A15CI 4N N""I 4N MV1 @121Q"?1> CN 4??QC1@ CI ">@1> M" F">1 ?>"?1>QB 124QH4M1 CI@C#4MC"IN MV4M @C66HN1 1[#1NNC21QB CI MV1 @121Q"?1>$ W지시의 판독은 현상제가 과도하게 퍼져서 나타나는 지시를 좀 더 적절하게 평가하기 위해서 현상제가 적용되자마자 시작해야 한다$X
a$7$;$7
SCI4Q CIM1>?>1M4MC" CIM1>?>1M4MC"I I NV4QQ A1 F4 F4@1 @1 "IQB "IQB 46M1> 4QQ"DCI5 MV1 ?1I1M>4IM ?1I1M>4IM M" AQ11@ "HM 6"> /.)/: FCIHM1N$ W최종 판독은 /.n/: 분 동안 침투제가 흡출된 후에 행해져야 한다$X
a$7$<
RI@C#4MC"IN M" A1 CI21NMC54M1@ W조사되어야 할 지시X UV1 CIM1>?>1M4MC"I CIM1>?>1M4MC"I NV4QQ C@1IMC6B C6 4I CI@C#4MC"I 4N 64QN1T I"I)>1Q124IM "> >1Q124IM$ S4QN1 4I@ I"I) >1Q124IM CI@C#4MC"IN NV4QQ A1 ?>"21I 4N 64QN1 "> I"I)>1Q124IM$ RIM1>?>1M4MC"I NV4QQ A1 #4>>C1@ "HM M" C@1IMC6B MV1 Q"#4MC"IN "6 CI@C#4MC"IN 4I@ #V4>4#M1> "6 MV1 CI@C#4MC"I$ W판독을 통해서 어떤 지시가 거짓T 무관련 또는 관련지시인지 여부를 확인해야 한다$ 거짓 또는 무관련
지시들은 거짓 또는 무관련으로 입증되어야 한다$ 판독을 통해 지시의 위치와 특성을 확인해야 한다$X
a$7$=
(24QH4MC"I "6 RI@C#4MC"I W지시의 평가X EQQ 01Q124IM CI@C#4MC"I NV4QQ A1 CI21NMC54M1@ CI21NMC54M1@ M" MV1 1[M1IM MV4M MV1B #4I A1 124QH4M1@ CI M1>FN "6 MV1 4##1?M4I#1 #>CM1>C4 "6 ?4>4$/.$.$ W모든 관련 지시는 /.$. 항의 합부 판정으로 평가할 수 있는 범위까지 조사되어야 한다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /< "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING
10.0
ACCEPTANCE STANDARDS [합격기준]
/.$/
UV1 4##1?M4I#1 NM4I@4>@ NM4I@4>@N N QCNM1@ CI 4 &!( N?1#C6C#4MC"IT ?4>M N?1#C6C#4MC"I 4I@O"> ?4>M @>4DCI5 NV4QQ 4??QB$ W합격 기준은 비파괴검사 사양서T 부품 사양서 및O또는 부품 도면을 적용한다$X
/.$7
E##1?M4I#1 #>CM1>C4 "6 ZU W초음파탐상검사의 합격 기준X
/.$7$/
bH4QCMB Q121Q / W품질 수준 /X /_ S4A>C#4MC"I D1Q@ ?>1?4>4MC"IN 6"> 4 @CNM4I#1 "6 :. FF$ W개선면의 :. FF 거리X
7_ :. FF @1?MV 6>"F MV1 6CI4Q F4#VCI1@ NH>64#1 CI#QH@CI5 A"QM V"Q1N$ W볼트 구멍을 포함한 최종 가공 표면의 :. FF 깊이X
8_ SCQQ1M >4@CC M" 4 @1?MV "6 :. FF 4I@ DCMVCI @CNM4I#1 "6 :. FF 6>"F MV1 >4@CHN 1I@$ W필렛 반경부터 :. FF 깊이T 반경 끝에서 :. FF 거리X
9_ UV1 "HM1> "I1 MVC>@ "6 MVC#JI1NN CI MV1 e"I1N I"FCI4M1@ 6"> E??1I@C[ /$ W부록 / 에 지정된 영역에서 두께의 /O8 바깥쪽X
:_ !CN#"IMCIHCMC1N DCMVCI MV1 1[4FCI1@ e"I1N CIM1>?>1M1@ M" A1 #>4#JN "> V"M M14>N$ W균열 또는 핫 티어로 해석되는 시험 범위안의 불연속 결함X
/.$7$7
bH4QCMB Q121Q 7 W품질 수준 7X /_ *MV1> Q"#4MC"IN I"FCI4M1@ 6"> HQM>4N"IC# M1NMCI5 CI E??1I@C[ / "> "I MV1 CIN?1#MC"I ?Q4I$ W부록 / 에 또는 검사 계획에 초음파 탐상 검사를 하도록 지정된 기타 지역X
7_ 3"NCMC"IN "HMNC@1 Q"#4MC"IN I"FCI4M1@ 6"> Q121Q ZU/ 1[4FCI4MC"I DV1>1 611@1>N 4I@ 54M1N V421 A11I >1F"21@$ W피더\611@1>_ 및 게이트\54M1_가 제거된 경우T ZU/ 검사 수준으로 지정된 위치 바깥쪽의 장소_X
8_ EM MV1 #1IM>4Q "I1 MVC>@ "6 MVC#JI1NN CI MV1 e"I1N "6 I"FCI4M1@ 6"> E??1I@C[ /$ W부록 / 에 지정된 영역에서 두께의 /O8 중앙쪽X
U4AQ1 /$ E##1?M4I#1 E##1?M4I# 1 #>CM1>C4 6"> HQM>4N"IC# M1NMCI5 W초음파탐상검사의 합격 기준X
W거리이득크기에 따른 평저공X
,4[$ IHFA1> "6 CI@C#4MC"IN /_ M" A1 >15CNM1>1@ W검사 대상 결함지의 최대수X
EQQ"D4AQ1 Q1I5MV "6 QCI14> 7_ CI@C#4MC"IN W선형지시의 허용 길이X
/
l ; FF
.
.
7
/7 ) /: FF l /: FF
: .
:. FF .
bH4QCMB P121Q
EQQ"D4AQ1 @CN# NV4?1 4##">@CI5 M" !d+
W품질 수준X
&"M1N ' 5>"H?1@ CI 4I 4>14 F14NH>CI5 8.. [ 8.. FF W그룹의 측정 영역은 8.. [ 8.. FFX 7_ F14NH>1@ "I MV1 N#4IICI5 NH>64#1 W주사 표면에서 측정X /_
RI #4N1 "6 "MV1> @C4F1M1> ScKN NH#V 4N /7 FF "> /: FF$ -4Q#HQ4MC"IN #4I A1 HN1@ 6"> 124QH4MC"I ?H>?"N1 M" 1NM4AQCNV MV1 @C661>1I#1 N1INCMC2CMB Q121Q \@c_$ W/7FF 또는 /:FF 의 다른 직경의 평저공의 경우$ 평가 목적으로 차이나는 감도 수준\@c_의 설정은 계산을 사용할 수
있다$X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /= "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING /.$8
E##1?M4I#1 #>CM1>C4 "6 +U W표면 불연속검사의 합격 기준X
/.$8$/
->4#JN 4I@ V"M M14>N 4>1 I"M 4##1?M4AQ1$ 4##1?M4AQ1$ W균열 및 핫티어\V"M M14M_는 불합격이다$X
/.$8$7
bH4QCMB Q121Q / W품질 수준 /X /X /_ S4A>C#4MC"I D1Q@N ?>1?4>4MC"I 4I@ D1Q@ >1?4C>N$ W제관 용접 개선부 및 용접 보수부X
/.$8$8
bH4QCMB Q121Q 7 W품질 수준 7X /_ *MV1> P"#4MC"I CI@C#4M1@ 6"> NH>64#1 @CN#"IMCIHCMB M1NMCI5 CI 4??1I@C[ R$ W부록 R 의 표면 불연속 시험에 표시되지 않은 위치X
U4AQ1 7$ E##1?M4I#1 E##1?M4I# 1 #>CM1>C4 6"> +H>64#1 @CN#"IMCIHCMB @CN#"IMCI HCMB M1NMCI5 W표면 불연속 검사의 합격 기준X bH4QCMB P121Q
,4[$ IHFA1> "6 CI@C#4MC"IN
W품질 수준X
W지시의 최대 개수X
/
7
9 CI /:. FF Q1I5MV 7. CI 7 77T:.. FF 4>14
,4[$ IHFA1> 6"> 14#V MB?1
,4[$ @CF1INC"I "6 7_ NCI5Q1 CI@C#4MC"I
W각 종류의 최대 수량X
W단일 지시의 최대 크기X
&"I)QCI14>
/_
9
: FF
PCI14> EQC5I1@ &"I)QCI14> PCI14> EQC5I1@
9/_ /_
8 FF 8 FF < FF : FF : FF
UB?1 "6 CI@C#4MC"I W지시의 종류X
9 /. ; ;
&"M1 ' 8. FF FCI$ A1MD11I >1Q124IM CI@C#4MC"IN$ W관련 지시들 사이 최소 8. FFX 7_ RI D1Q@ >1?4C>NT MV1 F4[CFHF @CF1INC"I CN 7 FF$ W보수 용접 시T 최대 치수는 7 FFX /_
11.0
RECORDS [기록]
//$/
UV1 >1NHQM "6 1[4FCI4MC"I NV4QQ A1 >1#">@1@ "I MV1 01?">M$ E##1?M4AQ1 E##1?M4AQ 1 CI@C#4MC"IN NV4QQ I"M A1 >1#">@1@$ W검사 결과는 보고서에 기록되어야 한다$ 합격 지시는 기록되지 않는다$X $X
//$7
S"> 14#V 1[4FCI4MC"IT MV1 6"QQ"DCI5 CI6">F4MC CI6">F4MC"I "I NV"HQ@ A1 >1#">@1@ 4N 4 FCICFHFq W각 검사에 있어서 최소한 다음의 정보를 기록하여야 한다$X
//$7$/
d1I1>4Q CI6">F4MC"I W일반 정보X \/_ !4M1 "6 M1NMCI5$ W시험 일자 X \7_ &4F1N 4I@ YH4QC6C#4MC"I Q121Q "6 CIN?1#MC"I ?1>N"II1Q$ W성명 및 검증된 검사원 수준X \8_ UB?1 "6 #4NMCI5$ W주조품의 종류X \9_ 3>"@H#M IHFA1> 6"> C@1IMC6C#4MC"I$ W제품 식별 번호X \:_ d>4@1 "6 NM11Q$ W강의 등급X \;_ K14M M>14MF1IM$ W열처리X \ M1NMCI5$ W검사 부위X \a_ +H>64#1 #"I@CMC"I$ W표면 조건X W사용한 시험 규격X \/._ U1NM NM4I@4>@N HN1@$ 사용한 \//_ 01NHQMN$ W결과X \/7_ +M4M1F1IM "6 4##1?M4I#1 O I"I)4##1?M4I#1$ W합격O불합격 상태X \/8_ P"#4MC"IN "6 >1?">M4AQ1 CI@C#4MC"IN$ CI@C#4MC"IN$ W기록 지시의 위치X \/9_ !1M4CQN "6 D1Q@ >1?4C>N CI#QH@CI5 NJ1M#V1N$ W스케치가 포함된 보수 용접부의 상세 사항X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' /a "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING //$7$7
ZQM>4N"IC# 1[4FCI4MC"I W초음파탐상검사X \/_ SQ4D @1M1#M">T ?>"A1N 4I@ #4QCA>4MC"I AQ"#JN HN1@$ 사용된 W사용된 탐상기T 탐촉자 T 교정 시험편X
//$7$8
,45I1MC# ?4>MC#Q1 1[4FCI4MC"I W자분탐상검사X \/_ ,1MV"@ "6 F45I1MCeCI5T M1NM F1@C4 4I@ F45I1MC# 6C1Q@ NM>1I5MV W자화 방법T 자분 및 자화 강도X
//$7$9
31I1M>4IM 1[4FCI4MC"I W침투탐상검사X \/_ UV1 #"INHF4AQ1N HN1@ 사용한 W사용한 소모품X
PROCESS SPECIFICATION
!"#$ &"$ ' &!()*+),+-)./ 012$ &"$ ' . 3451 ' 7. "6 7.
NDE PROCEDURE FOR CASTING Appendix 1. Extent and methods of examination to be applied to Node castings (sample) W노드\&"@1_ 주조품의 검사 방법 및 적용 범위 \샘플_X
3>"@H#M I4F1 W제품명X
([4FCI4MC"I 4>14 W검사 영역X EQQ 4##1NNCAQ1 NH>64#1 NH>64#1 W모든 접근가능한 표면X
&"@1 W노드 '
제품 연결점X
,1MV"@ W방법X ,45I1MC# ?4>MC#Q1 4I@ ZQM>4N"IC# 1[4FCI4MC"I W자분탐상 및 초음파탐상 검사X
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