Curso de Difracción de Rayos-X

 

CURSO DE DIFRACCIÓN DE RAYOS-X DE MUESTRAS POLICRISTALINAS Una introducción a la Cristalografía, la Difracción de Rayos-X de muestras policristalinas y su aplicación al Análisis Cualitativo y Cuantitativo Temario general del curso: 1.Concepto y clasificación de los Cristales.   Estructura de cristal

Operaciones y elementos de simetría Celda Unidad Redes bi y tridimensionales Sistemas cristalinos Grupos Puntuales Grupos Espaciales Posiciones atómicas (generales y especiales) Representación Representac ión de grupos espaciales de baja simetría Manejo de las Tablas Internacionales de Cristalografía.

2.  Difracción de rayos-X. Difracción de los rayos-X por un cristal Índices de Miller Ley de Bragg Red Directa y red recíproca Esfera de Ewald y esfera limitante Métodos de difracción de rayos-X Difracción por un átomo Factor de dispersión atómica y Factor de estructura. Ausencias sistemáticas. Factor de polarización y multiplicidad Factor de Temperatura Orientación preferencial y tamaño de partícula 

3.  Método de Polvo. 3.1 Módulo Teórico Difractómetro: ventajas y aplicabilidad Medición y Procesamiento de datos: (uso de programas especializados)   Alisamiento del perfil de difracción.   Eliminación background.   Eliminación Kα2.    Localización de los picos. 

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4.  Análisis Cualitativo de Fases Cristalinas 4.1  Bases de Datos Cristalográficas Diffraction Data  PDF-2/PDF-4 del International Centre for Diffraction (ICDD).  International Crystal Structure Database (ICSD) 4.2 Módulo Experimental Método de Hanawalt:   Método Manual

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  Método Automático: Uso de los programas de Búsqueda por comparación

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4.3

Módulo Experimental

Análisis cualitativo de materiales minerales, mi nerales, cerámicos, metales, aleaciones..etc. Uso de programas especializados.

5.  ANÁLISIS CUANTITATIVO DE FASES CRISTALINAS 5.1  EL MÉTODO DE RIETVELD  

5.2

MÓDULO EXPERIMENTAL Análisis cuantitativo mediante el método de Rietveld. Uso de programas especializados.

TIEMPO TOTAL DEL CURSO 48 HORAS: COSTO TOTAL: $8´000.000.oo ( OCHO MILLONES DE PESOS)

 

 

Bibliografía recomendada  

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“Introduction to X-ray powder diffractometry”. Ron Jenkins and Robert L.

Sneyder. John Wiley & Sons

“Fundamental of powder diffraction and structural characterization of materials”. Vitalij K. Pecharsky Pecharsk y and Peter Y. Zavalij. Springer Science.     “X-ray Structure Determination. A practical guide”. Gorge H. Stout and Lyle H.

Jensen. A Wiley-Interscienc Wi ley-Intersciencee Publication.   “Structure Determination by X -Ray Crystallography”. M. F. C. Ladd and R. A. Palmer. Plenum Press, New York and London.   Powder diffraction. Theory and Practice”. Edited by R. E. Dinneber and S. J. L. Billinge. RSC Publishing. Cordialmente,

JOSÉ ANTONIO HENAO MARTÍNEZ C:C. 13.833.354 de Bucaramang Bucaramangaa Cel: 315-8249350