2 Registros de Pozo

Dispositivo de perfilaje

Panel de control Tambor del cable

Medidor de profundidad 1

Punto de profundidad cero

Unidad de perfilaje

Tema 5

PERFILAJE A POZO DESNUDO

Porosidad Saturaciones Arcillosidad permeabilidad Espesores Litología ETC.

2

Propiedades eléctricas Propiedades acústicas

Propiedades radioactivas

PERFILES DE POZOS RESISTIVOS ELÉCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP Laterolog (LL) Dual-Laterolog (DLL) Inducción (IL) Doble-Inducción (DIL)

Esférico (SFL)

MICRO RESISTIVOS Microlog (ML) Microlaterolog (MLL) Proximity (PL) Microesférico (MSFL) 3

ACUSTICOS Sónico Compensado (BHC) Sónico de Esp. Largo Sónico Digital

RADIOACTIVOS Densidad (FDC) Litodensidad (LDL) Neutrones (CNL) (SNP) Neutrón de Doble Porosidad Rayos Gamma Rayos Gamma Espectral

APLICACIONES DE LOS REGISTROS (En hoyo desnudo)

Cualitativas :

• Correlación • Litología

Cuantitativas :

• Espesor de arena • Porosidad • Saturación de agua - hidrocarburos • Permeabilidad • Arcillosidad

Especiales :

Buzamiento , Desviación, Fracturas, Geomecánica, Geofísica etc. Espesor y área (mapa) volumen de la roca Porosidad y saturaciones 4

volumen de los fluidos

Caracterización del yacimiento y determinacón de la reserva

Propiedades medidas por los perfiles

ELECTRICAS

ACUSTICAS

RADIACTIVAS

Resistividad Potencial espontáneo

Velocidad del sonido Natural

Inducida 5

Rayos Gamma Densidad total Indice de hidrógeno

Utilización de los registros según la propiedad medida

Determina Resistividad

Inducción Laterolog Microesférico

SP

Saturación de agua Rw Vsh

Acústica

Sónico

Rayos Gamma Rayos Gamma Espectral Radioactiva 6

Densidad Neutrón

Porosidad

Litología Porosidad

PERFILES DE POZOS

RESISTIVOS ELÉCTRICO CONVECIONAL (EL) Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL)

SP

7

Fuera del mercado desde los años setentas

 Se corre todavía en la actualidad

SP - Potencial Espontáneo * Es un potencial eléctrico desarrollado en el pozo debido al movimiento de los iones presentes en el agua de formación y en el barro de perforación * El movimiento de los iones se debe al contraste de salinidad entre el agua de formación y el filtrado de barro de perforación * Los iones se migran de la solución de alta concentración a la de baja concentración y son principalmente iones de Cl- y Na+ * Estos iones se migran por dos trayectorias originando dos potenciales Potencial de contacto Ed 8 Potencial membrana Esh

Desarrollo del potencial espontáneo Cl -

Cl -

Cl -

Cl -

Na +

Cl -

Na +

Baja concentración

Cl -

Na + Na +

Alta concentración

+

+

Barro

Cl -

− + Na − + Na − + Na − +

Cl -

Na +

Cl Cl -

+

+

Lutita

– – – – – + Cl Na + ClNa + Cl Cl - Na Na + Cl Na + Na + Cl + Na

Filtrado Agua de formación

Potencial de contacto (Ed) Potencial de membrana (Esh)

9

Desarrollo del potencial espontáneo Potencial de lutita Esh

Genera un voltaje

Na +

Na + Na +

− − − −

– – – – – Cl - Na +

Na + Cl Cl -

Genera un voltaje Potencial de contacto Ed o Esand

Cl

Na +

Cl -

Cl Cl -

Na +

Baja concentración

10

Cl -

Na +

Cl -

Cl Cl -

Na +

-

Invasión

Curva de SP = Ed + Esh

Cl Na + Cl Na +

Na +

Cl -

Na + Na +

Alta concentración

Expresión matemática de las dos potenciales Potencial de lutita Potencial de contacto

Esh = – 0.111 (460 + T) log Rmfe Rwe Ed = – 0.022 (460 + T) log Rmfe Rwe

Ec = Potencial electroquímico = Esh + Ed Ec = Esh + Ed = – 0.133 (460 + T) log Rmfe Rwe Ec = – (61 + 0.133T) log Rmfe Rwe K

Ec = – K log Rmfe Rwe 11

K = 61 + 0.133 T Resistividades equivalentes

Rmf

o

Relación entre Rw y Rmf con Rwe y Rmfe

12

Definición de SP y SSP Potencial electroquímico desarrollado Ec Ec = – K log Rmfe Rwe

Ec = SSP Potencial electrquímico medido  SP

Ec

SP < SSP Por efectos de factores del pozo y de la formación

13

Factores que afectan a la curva de SP SPLeído < SSP = SPDesarrollado 1. Resistividad 2. Arcillosidad

Resitividad Alta

Arcillosidad (Vsh)

SPleído

SSP 14

Factores que afectan a la curva de SP 3 Efectos por invasión

Invasión

SPleído

SSP

Invasión profunda (Di grande)

4 Efectos por capas vecinas (por espesor delgado)

SPleído < SSP

SSP

15

Los efectos por espesor y por invasión pueden ser corregidos utilizando grafico preparado

SUMARIO

Factores que afectan a la curva de SP

1 La resistividad de la formación.

(Rt)

2 La arcillosidad. (Vsh) 3 La profundidad de invasión. (Di)

4 El espesor de la capa. (e)

(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)e (Ec) Potencial 16 electroquímico

Efectos que reducen el potencial electroquímico

Corrección de la curva de SP Por espesor y por invasión Ri Rm

Tiene relación directa con Di

Gráfico para corregir SP por espesor y por invasión

Si la Porosidad baja (invasión es profunda ) La curva de SP debe corregirse si el espesor es menor que 30’

30’

Si la porosidad es alta (Invasión somera) se desprecia la corrección si el espesor es ± 8’

8’

Invasión profunda

Correccion 17 10%

FC

Utilización de la curva de SP * Determinar Rw. * Determinar la arcillosidad. * Correlacionar unidades litológicas.

* Identificar zonas permeables. 18

Determinación de Rw a partir de la curva de SP La curva de SP puede ser usada para determinar Rw si se cumplen las siguientes condiciones:

(SP)leido = SSP - (Ef)Rt + (Ef)Vsh + (Ef)Di + (Ef)e Son despreciables

• Resistividad no muy alta – Arena acuífera Sw = 100% • La arena es limpia o libre de arcilla. • Invasión no profunda (Porosidad mediana) • Espesor adecuado o la lectura ha sido corregida por capas vecinas. 19

SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe)

Determinación de Rw a partir de la curva de SP

SP = Ec= SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe) Determinación de K y Rmfe

K=61+0.133*TF Rmfe a partir del gráfico Rmf > 0.1 a 75F Rmfe es aprono usar el gráfico ximado con

Rmfe = 0.85*Rmf

Para la conversión de Rwe a Rw sí se puede usar todo el gráfico o algebraicamente. 20

Ejemplo

Determinación de Rw a partir de la curva de SP SSP = -68

Rmf = 0.41 a Tf = 150ºF

K = 61+0.133*150 = 81 Rmfe = 0.85*0.41 = 0.348 SSP log ( Rmfe/Rwe) = -K Rmfe/Rwe = (10)

SSP -K

=

- 68 (10) - 81

Rmfe 0.348 =0.050 Rwe = 6.9 = 6.9 Rw=0.060 21

SSP = - Klog ( Rmfe/Rwe) K = 61+ 0.133*TF Rmfe = 0.85*Rmf

= 6.9 Rw=0.060

(Rmf > 0.1)

Linea de arena limpia

Determinación de la arcillosidad a partir de la curva de SP SP mv

0

Y

Vsh =

X

Y = SSP - SP A

X = SSP

X = SSP Arena considerada como limpia

Y

SSP - SP

Vsh =

SP B 22

SSP

Ejercicio No. 2 para los participantes

Determine la fracción de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2 mv

A B C 23

Solución del ejercicio No. 2 Determine la fracción de arcillas, Vsh, de los intervalos A y C de la arena 2

SSP – SP Vsh = SSP

SSP = -72 SPA = -52 SPB = -62

Linea de lutita mv

VshA =

VshA = 0.278 = 27.8%

Arena limpia SSP = -72 mv

VshB = SP = -52 mv A

B SP = -62 mv 24

-72 – (-52) -72

C

-72 – (-62) -72

VshB = 0.139 = 13.9%

Registro Eléctrico Convencional Sistema Lateral RESISTIVOS ELÉCTRICO CONVECIONAL (EL)

Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP

V R=

I

[ohm-m] I

V 25

Fundamentos de medición

Forma de la curva Lateral en estrato grueso Características La curva es asimétrica Espesor = 5 x AO

Difícil de leer el valor medido

Rt=25 ohm-m Valor máximo

Valor máximo

26

Fundamentos de medición

Registro eléctrico convencional Sistema Nomal

RESISTIVOS ELÉCTRICO CONVECIONAL (EL)

Lateral (LAT) Normal Corta (NC) Normal Larga (NL) SP

V R=

I

[ohm-m]

N alejado de A y M

V Espaciamiento

27

Forma de la curva Normal en estrato grueso Característcas La curva es simétrica

Su valor se lee en el máximo de la curva

Rt=25 Rleida